X'Pert PRO MRD and MRD XL | 成功的薄膜分析标准 | 针对薄膜的研究和生产控制——大到4英寸(MRD)或200mm(MRDXL)的全晶片测试 , 可用C-to-C晶片样品架自动完成 |
把X射线衍射和散射技术从研究实验室扩展到日常使用及生产控制可以通过一系列的技术和软件开发来实现,比如帕纳科的超快探测器。
• 带有直接光学位置灵敏(Direct Optical Position Sensing)的测角仪,是为连续多年的性能而设计的。
• 与CERN和其它技术的探测器物理研究单位共同开发的全固态X射线探测技术。
• PIXcel3D: 世界上的可以进行0维、1维和3维测量的面探测器。
• 一套完整的艺术级的分析软件包,为了使用简便而设计,有详尽的文本和指南的支持。
• 遍布世界的XRD专家网络,能够回答您的任何应用问题。