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BW-HAST-H4 半导体高加速温湿度应力试验系统

参考价
1000000-1200000/套
具体成交价以合同协议为准
  • 型号BW-HAST-H4
  • 品牌
  • 所在地西安市
  • 更新时间2023-12-13
  • 厂商性质生产厂家
  • 入驻年限1
  • 实名认证已认证
  • 产品数量11
  • 人气值382
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陕西博微电通科技有限责任公司位于古都西安沣东新城能源金贸区,我公司是一家致力于高精度半导体测试设备、电力电子检测设备、半导体实验室系统及电力储能解决方案的集研发、生产、销售的高科技企业。

公司主营产品有:半导体分立器件测试系统、光藕测试仪器、IC测试仪、半导体热特性测试系统及电池安全管理系统等,

针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC半导体测试产品,广泛应用于半导体企业测试计量、封装测试、IDM测试、晶圆测试、DBC测试以及科研教学、智能电力、轨道交通、新能源汽车、白色家电等元器件应用端产业链的来料检验、器件选型及工业院所、实验室的数据验证分析和研发指导等。

半导体测试设备可针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可进行高精度静态参数测试(包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数)测试精度可达16位ADC;动态双脉冲(包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg)及Rg/UIS/SC/C/RBSOA测试等;环境老化测试(包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/间歇寿命IOL/功率循环PCT3000 )及热特性测试(包括PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)半导体器件测试设备/雪崩耐量测试UIS、二极管浪涌测试IFSM、热阻测试、晶闸管直流参数测试SCR、安全工作区正偏/反偏/短路安全工作区测试SOA,各类型探针台、高精度高低温箱及分立器件分选机系统等

该系列产品广泛应用于半导体生产及应用企业(设计、制造、封装、IDM厂商、晶圆、DBC衬板)和下游产业(院所高校、电子厂、轨道机车、新能源汽车、白色家电等元器件的应用端产业链)的来料检验、器件分选、参数分析;广泛应用于半导体实验室、研究所、高校等研发部参数对比、器件选型、验证分析、研发数据指导等。
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质量,更注重售后服务和客户满意度,我们秉承“博厚共赢、服务入微”理念竭诚为每一位客户提供性价比高、高品质的产品与服务,解决客户半导体测试痛点,助力行业发展。








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产地国产 加工定制
适用于 SI/SIC/GaN 芯片的各种封装类型的二极管、三极管、SCR、MOSFET、IGBT、IPM、桥堆等半导体器件进行 HAST 试验。
符合JESD22-A101、AEC-Q101 等试验标准要求
半导体高加速温湿度应力试验系统 产品详情

高加速温湿度应力试验系统BW-HAST-H4

适用于 SI/SIC/GaN 芯片的各种封装类型的二极管、三极管、SCR、MOSFET、IGBT、IPM、桥堆等 半导体器件进行 HAST 试验。

技术特点 Technical characteristics

■实时监测每个器件的反偏电压、漏电流;

■电压可达6000V;;

■对于模块上下桥可同时加电同时监测漏电;

■整个试验过程的数据(漏电流、反偏电压、温度、湿度) 记录并存储。并输出为Excel  报表和绘制全过程漏电流IR

■设定漏电上限可快速切断该回路电压;

■可根据用户的需求,定制各种老化板及测试程序。




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