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BW-HTGB-C16 高精度半导体高温栅偏实验系统

参考价
185000-240000/件
具体成交价以合同协议为准
  • 型号BW-HTGB-C16
  • 品牌
  • 所在地西安市
  • 更新时间2023-12-22
  • 厂商性质生产厂家
  • 所在地区西安市
  • 实名认证已认证
  • 产品数量19
  • 人气值622
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陕西博微电通科技有限责任公司位于古都西安沣东新城能源金贸区,我公司是一家致力于高精度半导体测试设备、电力电子检测设备、半导体实验室系统及电力储能解决方案的集研发、生产、销售的高科技企业。

公司主营产品有:半导体分立器件测试系统、光藕测试仪器、IC测试仪、半导体热特性测试系统及电池安全管理系统等,

针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC半导体测试产品,广泛应用于半导体企业测试计量、封装测试、IDM测试、晶圆测试、DBC测试以及科研教学、智能电力、轨道交通、新能源汽车、白色家电等元器件应用端产业链的来料检验、器件选型及工业院所、实验室的数据验证分析和研发指导等。

半导体测试设备可针对Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可进行高精度静态参数测试(包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数)测试精度可达16位ADC;动态双脉冲(包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg)及Rg/UIS/SC/C/RBSOA测试等;环境老化测试(包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/间歇寿命IOL/功率循环PCT3000 )及热特性测试(包括PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)半导体器件测试设备/雪崩耐量测试UIS、二极管浪涌测试IFSM、热阻测试、晶闸管直流参数测试SCR、安全工作区正偏/反偏/短路安全工作区测试SOA,各类型探针台、高精度高低温箱及分立器件分选机系统等

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质量,更注重售后服务和客户满意度,我们秉承“博厚共赢、服务入微”理念竭诚为每一位客户提供性价比高、高品质的产品与服务,解决客户半导体测试痛点,助力行业发展。








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产地国产 加工定制
适用于各种封装的 IGBT/MOS 模块高温栅偏试验
试验线路及试验方法满足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相关标准要求
80 颗/每通道×16 通道=1280 颗(满载试验数量)
系统平均运行无问题时间≥10000 小时
高精度半导体高温栅偏实验系统 产品详情


半导体高温栅偏实验系统BW-HTGB-C16

 

       ■适用于各种封装的 IGBT/MOS 模块高温栅偏试验

       ■试验线路及试验方法满足 MIL-STD-750 Method 1037 及 AEC Q101 相关标准要求

       ■80 颗/每通道×16 通道=1280 颗(满载实验数量)

       ■系统平均无问题运行时间≥10000 小时

技术特点 Technical characteristics

将被测量元件放置在一定的环境温度中,给被测元件的栅极施加一定的偏置电压。同时测控系统实时检测每个材料的漏电流、电压,并根据预先设定,当被测材料实时漏电流超过设定值时,自动切断被测材料上的电压,可以保护被测元件不会进一步烧





关键词:标准
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