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| Leeb 测量原理 – 由 Proceq 发明 | |
| Leeb 硬度原理基于动态（回弹）法。带坚硬金属压头的冲击体由弹簧向检测件表面推进。当冲击体冲击测试表面时，表面出现变形，从而导致动能损耗。当冲击体在检测的冲击和反弹阶段分别距离表面特定距离时，能量损失通过对比速度 vi 和 vr进行检测。 通过冲击体中的磁铁在准确定位于冲击装置的绕组中产生感应电压来测量速度。检测到的电压与冲击体的速度成正比。然后信号处理会给出硬度读数。 |  |
| 优势 | ● 可使用完整的 Leeb 探头包，并与 Portable Rockwell 和 UCI 相结合 ● 具有所有 Equotip 产品倍受肯定的高精度 ● 内置强大的报告功能，随时准备好可用的数据资料 |  |
| 默认单位 | HL | |
| 可用单位 | HB，HV，HRA，HRB，HRC，HS，MPA | |
| 可用探头 | Leeb D / DC / DL / S / E / G / C | |
| 与其他方法相结合 | Portable Rockwell，UCI | |
| 平均粗糙度 Ra (µm / µinch) | 7 / 275 (Leeb G) | |
| *小质量 (kg/lbs) | 0.02 / 0.045 (Leeb C) | |
| *小厚度 (mm/inch) | 1 / 0.04 (Leeb C) |
| 功能 | | 应用 | ||
| 仪器固件 | ➤ 冲击方向自动修正 ➤ 个性化用户资料和视图 ➤ 集成至自动测试环境中（包括远程控制） ➤ 支持 11 种语言和时区 | | 标准到大对象 | √ |
| PC软件 | Equotip Link 可提供直接报告和自定义报告 | | 圆形对象 | 与支撑环结合使用 |
| 显示屏 | 7“带双核处理器的彩色坚固的触摸屏装置（800×480像素） | | 轻薄对象（＜2Kg） | 带有冲击装置 Leeb C |
| 内存 | 内置 8 GB 闪存（> 1000000 个测量值） | | 非常坚硬的对象 | 带有冲击装置 Leeb S 和 E |
| 连接 | USB 主机/设备和以太网 | | 铸件 | 带有冲击装置 Leeb G 和 D |
| 测量范围 | 150 – 950 HL | | 抛光的对象 | 带有冲击装置 Leeb C |
| 测量精度 | ± 4 HL（800 HL 时为 0.5%） | | 不易接触 | 带有冲击装置 Leeb DC 和 DL |
 | | 细小对象（＜5mm） | x | |
| | 热处理表面 | √ | ||
| | 其他应用 | ● 适合物联网 (IoT) 和工业 4.0 环境 ● 法兰, 发动机组, 轴, 齿轮, 起落架, 纸卷检测, 线圈, 钢筋, 管道与热处理 | ||
| 标准化 | |
标准 | 准则 |
| ● ASTM A 956 ● ASTM E 140 ● ASTM A 370 ● ISO 16859 ● DIN 50156 ● GB/T 17394 ● JB/T 9378 | ● ASME CRTD-91 ● DGZfP 准则 MC 1 ● VDI / VDE 准则 2616 文件 1 ● Nordtest 技术报告 424-1, 424-2, 424-3 |
| | |
| 配件 | |
测量配件 | |
| ● Equotip Leeb 冲击装置 D (356 00 100) ● Equotip Leeb 冲击装置 E (356 00 400) ● Equotip Leeb 冲击装置 G (356 00 300) ● 适用于 D/DC/D+15/C/E/S 的支撑环组（12 件装） (353 03 000) ● 电池组 (327 01 033) ● Equotip Leeb 冲击装置 S ● Equotip Leeb 冲击装置 DL ● 快速充电器（外置）(327 01 053) ● 特殊二合一套件: Equotip 550 Portable Rockwell & Leeb D 套件 (356 10 021), Equotip 550 Leeb D & UCI 套件 (356 10 022) |  |
验证工具 | |
| ● Equotip 测试块 E，<810 HLE / ~63 HRC (357 14 400) ● Equotip 测试块 G，~570 HLG / ~340 HB (357 32 300) ● Equotip 测试块 D/DC，<775 HLD / ~56 HRC (357 13 100) ● Equotip 测试块 D/DC，~775 HLD / ~56 HRC，Proceq 出厂 |
