Langer无源近场探头组XF1（30MHz-6GHz）简介:
包含4个无源磁场探头和1无源电场探头，所有探头的频率范围为30MHz到6GHz，用于在研发阶段测量磁场和电场。由于在探头内部配置了阻抗匹配器，该探头组与其他探头（如RF型探头）相比，在低频区较不敏感。
Langer无源近场探头组
品牌：Langer EMV-Technik
型号：XF1
无源XF1近场探头组（30MHz-6GHz）
无源XF（30MHz-6GHz）
XF系列探头包含4个无源磁场探头和3个无源电场探头，用于在电子模块研发阶段进行电场和磁场的测量，覆盖频率范围为30MHz到6GHz。这种探头内置阻抗匹配器，因而与其他探头（如RF型探头）相比在低频区域较不敏感。由于其频率范围宽并包含从很大到很小尺寸的各种探头，因而有着广泛的应用。探头的组合按照顾客的需求。
XF系列的探头可以用于逐步查找模块的干扰场源。我们建议，首先使用大型高灵敏探头从远距离查找模块的干扰放射源，然后再用更高分辨率的探头进一步精确定位干扰源。通过相应地操作近场探头，能够测量出电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便，并采用外皮电流衰减。磁场探头采用电屏蔽设计。
这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部安装有终端电阻。
Langer无源近场探头组XF1（30MHz-6GHz）简介:
包含4个无源磁场探头和1无源电场探头，所有探头的频率范围为30MHz到6GHz，用于在研发阶段测量磁场和电场。由于在探头内部配置了阻抗匹配器，该探头组与其他探头（如RF型探头）相比，在低频区较不敏感。
使用XF 1系列的探头，可以逐步辨识电子模块中的干扰磁场源。例如，首先用XF-R 400-1型探头检测电子模块总体发射出的干扰场，然后再用高分辨率探头更准确地识别干扰源。电场探头用于检测电子模块表面的干扰电场。
通过相应地操作近场探头，能够测量出电磁场的方向及其分布。这种近场探头小巧轻便，并采用外皮电流衰减。磁场探头采用电屏蔽设计。这种近场探头可以接到频谱分析仪或示波器的50Ω输入端。这些近场探头的内部安装有终端电阻。
Langer XF1近场探头组配置:
1x XF-R 400-1, 磁场探头（30MHz-6Hz）
1x XF-R 3-1, 磁场探头（30MHz-6GHz）
1x XF-B 3-1, 磁场探头（30MHz-6Hz）
1x XF-E 10, 电场探头（30MHz-6GHz）
1x XF-U 2.5-1, 磁场探头（30MHz-6GHz）
1x SMA-SMA 1 m, SMA-SMA 测量电缆
1x XF 1 qg, XF1系列 快速指南
1x Case 5(24 x 19.5 x 6) cm
简短的介绍
XF-R 400-1磁场探头 因较大的直径（25mm）而拥有很高的灵敏度，允许在10cm以内的距离测量模块和设备。
XF-R 3-1型近场探头： 用于高分辨率直接检测组件上，譬如IC的引脚或外壳、布线、旁路电容器和电磁兼容性（EMC）元件等区域的射频磁场。
XF-B 3-1型磁场探头的测量线圈相对垂直于探头柄。当探头竖直放置到电路板上时，其测量线圈直接平放在电路板的表面上。由此就能够测量到印刷电路板表面上很难达到的一些位置，如开关调节器的大元件之间的位置。
XF-E 10型电场探头底面的电极仅有约0.2mm宽，用于定位最小的电场，例如0.1mm宽的导线、高针数集成电路的单个引脚等发射的电场。测试时将该电场探头放置在受测物体上。
XF-U 2.5-1型磁场探头是一个近场探头，用于选择性测量导线、SMD组件和IC引脚中的高频电流。这个探头有一个大约0.5mm宽的磁场敏感缺口，测量时将这个缺口放在布线、IC或者电容器的连接点上。
无源XF（30MHz-6GHz）其他近场探头介绍：
XF-R 100-1型磁场探头（30MHz-6GHz）用于测量模块、设备或电缆，可以在距离被测物3cm以内使用。利用该磁场探头能够识别较大组件是否为潜在的干扰源。这种磁场探头呈现很高的带宽和线性度。
XF-E 04s电场探头（30MHz-6GHz）：这种近场探头可以检测受测对象（IC）耦合产生的电场。探头的侧面采用屏障设计，所以侧面作用的电场不影响测量结果。这种近场探头的灵敏度允许在0.5到10mm的距离检测集成电路及其他电子模块的电场。
XF-E 09s电场探头（30MHz-6GHz）：这种近场探头可以检测受测对象（IC）耦合产生的电场。探头的侧面采用屏障设计，所以侧面作用的电场不影响测量结果。这种近场探头的灵敏度允许在0.5到10mm的距离检测集成电路及其他电子模块的电场。
