XQ15-GⅠ激光平面干涉仪-仪表网

公司介绍主营产品

上海星庆光学仪器有限公司创办于1992年，是一个集生产制造多品种高精度的光学零部件,多系列、高精密度的光学仪器产品和销售的高科技光机电仪器一体化的专业制造企业。经多年的磨砺和不断发展壮大，企业现已成为厂房面积达1800多平方米；拥有员工80余名，其中工程技术人员30名；配有各种加工、测试设备50余台（套）；众多用户熟知的具有产品研发和制造能力。公司为更好地进行市场运作而成立的上海嘉星光学科技有限公司（销售公司）,使公司更具有运营、市场推广及业务拓展的能力。本公司加工的光学零部件有：各种高、中、低精度的光学平面，棱镜，球面透镜，非球面透镜及抛物镜、轮胎镜等非球面反光镜；红外材料的加工及分划元件的制作等；所加工的高精度平面,尺寸在Φ150mm其面形精度可达到1/20（λ）波长，近期更是购置了ZYGO公司的GPI干涉系统，应用全进口标准主镜(1/20λ)、校准镜头(1/50λ)，使我公司生产的球面面型精度亦可达到1/50（λ）波长。本公司自主开发生产的各类光学仪器主要有：在线测量用各种口径激光平面干涉仪、最小示值为1'和15＂的光学比较测角仪、全范围测量且最小分划格值为0.0025mm的反射式中心测定仪、工业测量显微镜、开关电路冷光源及各种CCD适配镜、数码适配镜等系列产品。本公司经营及市场运作的光学仪器主要有:体视显微镜、连续变倍率体视显微镜系列、透反射显微镜系列、手持式折射仪系列以及各种配套的显微镜用光源等等。本公司近期研发的光学仪器主要有：激光球面干涉仪，非接触测量球径仪，在线测量用投影仪等产品，其中球面干涉仪已经处在试制阶段。我们的目标是以高质量的产品、及时的交货、优质的服务树立企业的形象，并以明显的价格优势结交更多的新老客户。

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用途：　　可广泛用于工厂的计量室、光学车间和科研院所的实验室

XQ15-GⅠ激光平面干涉仪产品详情

XQ15-GⅠ激光平面干涉仪

用途：
　　可广泛用于工厂的计量室、光学车间和科研院所的实验室。光学平面的平面度测量、光学平板的微小楔角测量、光学材料均匀性测量、光学薄板波前误差的测量。

特点：
　　防震性能好、有的条纹锁定度、视场清晰、生产场所可用性优于市场同类产品，大容量的工作室为大批量生产企业的大镜面检测提供了方便。

技术参数：

标准平面（A面），工作直径D1=Φ146mm，平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
第二标准平面（B面），工作直径D2=Φ140mm，平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
准直系统----------------－工作直径Φ146mm，焦距 f = 400mm
光源规格----------------－激光ZN18(He-Ne)
干涉室尺寸----------------Φ480×380×285mm

选配件一：
　　精密升降工作台（适用GⅠ、GⅡ型）

用途：
主要用于平晶、平行平晶等非镀膜面高精度平面度的测量与检定以及仪器采用钠光或汞光照明时的测量。

选配件二：
　　透检工作台（适用GⅠ型）

用途：
主要用于超薄平行平板的波前误差测量、光学平板微小楔角相对干涉测量以及光学材料折射率均匀性的偏差判断。

选配件三：
　　高反射面测量工作台（适用GⅠ、GⅡ、GⅢ型）

用途：
主要用于镀反射膜及高折射率材料（如硅、锗等材料）表面精度的测量与检定。

选配件四：
　　显示监控系统（适用GⅠ型）

用途：
显示监控系统的应用，可减轻操作者的劳动强度，并可实施多人判读与分析，以达到教学与监控的目的。

选配件五：
　　计算机影像系统（适用GⅠ、GⅡ、GⅢ型）

用途：
影像系统的应用，可将被检测镜面的原始资料通过计算机保存和传输，以达到资料存档及远程监控、验收评定质量的目的。

选配件六：
　　倍率成像测微系统（适用GⅠ、GⅡ、GⅢ型）

用途：
　　主要用于目视精确量值的索得及小型被测件干涉条纹按要求放大测量与判读。

技术参数：
　　测微目镜放大率15X
　　倍率成像测微目镜适用范围见下表：

规格 size	焦距 focal length(mm)	放大倍率（β） magnification	适用被测口径 Working aperture
F15	151	0.56	Ф90~Ф150
F23	23	0.86	Ф50~Ф105
F37	37	1.39	Ф60以下

关键词：科研院标准监控系统

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