EDM 665 是迁移率粒径谱仪与光学气溶胶谱仪的结合,能够对5nm~32μm的颗粒物进行粒径谱分析
具有全自动24/7监控系统,可进行长达一个月的无人值守操作
SMPS+C
测量原理: DMA+CPC
检测粒径范围: 5-350 nm (M-DMA) /11-1094 nm(L-DMA)
检测浓度范围: 0一107 p/cm3
流量:采样流量0.3lpm;鞘气流量: 3lpm
光学气溶胶光谱仪
测量原理: 单颗粒90”光散射(基于激光二极管)
检测粒径范围: 0.25 μm-32 μm
检测浓度范围: 1-3X106 /cm3