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导波雷达物位计的发展基于一项历经检验的测距技术，该测距技术所采用的测量原理被称之为时域反射（TDR）原理。
低强度电磁脉冲以纳秒级宽度被发射并沿着刚性或柔性的导体以光速行进，当脉冲接触到介质表面时被反射。被反射的脉冲强度取决于被测介质的相对介电常数 εr；εr 越大，则反射越强。
发射脉冲与反射脉冲的时间差的一半对应着从法兰面到被测介质表面的距离；并且，该时间差被转换成 4…20 mA 电流和 / 或数字信号。
粉尘、泡沫、蒸汽、波动的表面、沸腾的表面；被测介质的温度、压力或密度的变化都不会影响仪表的正常运行。
输入 反射的脉冲信号沿缆绳传递至仪表电子线路部分，微处理器对此信号进行处理，识别出微波脉冲在物料表面所产生的回波。正确的回波信号由智能软件完成识别，距离物料表面的距离D与脉冲的时间行程T成正比：
D=C×T/2
其中C为光速
因空罐的距离E已知，则物位L为：L=E-D
输出 通过输入空罐高度E（=零点），满罐高度F（=满量程）及一些应用参数来设定，应用参数将自动使仪表适应测量环境。对应于4－20mA输出。
• 盲区小
• 测量不受下列因素影响：
-液体密度，固体物料疏松程度
-温度/压力
-粉尘/蒸汽
• 接触式测量，超高测量精度
• 同轴杆式探头的测量不受罐体及安装立管的内部结构影响
• 可以测量所有介电常数＞1.8的介质
• 测量范围0…30m
• 采用两线制、回路供电的技术，供电电压和输出信号通过一根两芯电缆传输，也可以选配四线制
• 4…20mA输出/HART（两线）
• 不受压力、温度变化、惰性气体、真空、烟尘、噪音、蒸汽、扬尘等工况影响，测量结果稳定可靠
| 仪表型号 | LWRD701 | LWRD702 | LWRD703 | LWRD704 |
| 应 用 | 无腐蚀性液体、粉末 | 无腐蚀性液体、粉末 | 无腐蚀性液体 | 强腐蚀性液体 |
| 量程范围 | 0...30m | 0...6m | 0...4m | 0...6m |
| 过程连接 | G1 1/2螺纹、法兰 | G1 1/2螺纹、法兰 | G1 1/2螺纹、法兰 | G1 1/2螺纹、法兰 |
| 过程温度 | -40...220℃ | -40...220℃ | -40...220℃ | -40...130℃ |
| 过程压力 | -0.1~4.0MPa | -0.1~4.0MPa | -0.1~4.0MPa | 0~1.0MPa |
| 测量精度 | ±0.1% | ±0.1% | ±0.1% | ±0.1% |
| 仪表盲区 | 0.3m（传感器末端） | 0.3m（传感器末端） | 0-0.3m（传感器末端） | 0.3m（传感器末端） |
| 信号频率 | 100MHz~1.8GHz | 100MHz~1.8GHz | 100MHz~1.8GHz | 100MHz~1.8GHz |
| 信号输出 | 4...20mA、HART | 4...20mA、HART | 4...20mA、HART | 4...20mA、HART |
| 电 源 | 24VDC、两线制 | 24VDC、两线制 | 24VDC、两线制 | 24VDC、两线制 |
| 防护等级 | 压铸铝壳、IP67 | 压铸铝壳、IP67 | 压铸铝壳、IP67 | 压铸铝壳、IP67 |
| 防爆等级 | Ex ia/d IIC T4 Ga/Gb | Ex ia/d IIC T4 Ga/Gb | Ex ia/d IIC T4 Ga/Gb | Ex ia/d IIC T4 Ga/Gb |
| 天线规格 | φ4mm/不锈钢缆式 | φ10mm/不锈钢杆式 | φ40mm/不锈钢同轴管式 | φ6mm/不锈钢衬F46缆式 |
