简单介绍
日本 3541 微电阻计 低电阻测试仪 3541 毫欧表
宽量程、高分辨率、适用于系统测试的电阻计
•广范围测量 低0.1μΩ(20.00mΩ)，高110MΩ
•快速采样,快可达0.6ms (根据设定条件的不同,会有差异)
•补正偏置电压,用9451(Pt)/温度探头进行温度补正功能
•运用4端子测量技术,测试线接触电阻可忽略不计
•具备统计、演算功能。若再另配选件的
测量电流：
20mΩ(显示20.0000mΩ,分辨率0.1μΩ)~100MΩ量程(显示110.000MΩ，分辨率1kΩ)，11档切换
[Low Power ON时]2Ω(显示2.00000Ω，分辨率10μΩ)~2kΩ量程(显示2.00000kΩ，分辨率10mΩ)，4档切换
测量精度：
(SLOW2) ± 0.007% rdg. ±0.0015%dgt.(2k/20kΩ)
[Low Power ON时]: ± 0.011% rdg. ±0.01%dgt.(2～2kΩ)
测量电流：
DC 1A～100nA, [Low Power ON时]: DC 10m～10μA
开路端子电压 DC 5V(20/200m), 2.6V(2～20k),13V(1M～100M),[Low Power ON时]: 60mV
采样速度：
快速 中速 低速 1 低速 2
50Hz 0.6ms ± 0.3ms 21ms ± 1ms 155ms ± 5ms 455ms ± 10ms
60Hz 0.6ms ± 0.3ms 17ms ± 1ms 149ms ± 5ms 449ms ± 10ms
应答时间(纯电阻时)：上记采样时间+约1ms(根据设定内容、试料的不同,会有差异)
其它功能：
温度测量(-10.0~99.9 °C)，温度补偿阻抗值换算，卷线温度上升值换算，比较功能，可储存装填30种设定条件,分类(BIN)测量(10分类), 统计运算,补偿偏置电压，迟延 , 平均数子输入/输出 输出: BCD, 测量结束,比测仪结果, BIN结果,NG/开放连接器输入: 条件选择, 触发, 校准, 0ADJ,印刷 /C-MOS
供应电源 AC 100～240V, 50/60Hz, 30VA max.
体积于重量 215宽 × 80高 × 295厚mm, 2.6kg
