BKTEM-B2薄膜热电参数测试系统
关键词：薄膜热电，赛贝克系数，Seebeck，四线法
为解决日益紧迫的能源危机，太阳能、风能、核能等多种新能源不断被开发利用。新能源的使用需要优质的节能材料。
BKTEM-B2薄膜热电参数测试系统利用热电材料制成的制冷和发电系统，具有体积小、重量轻、无任何机械噪音、不造成任何环境污染等众多优点。因此对热电材料的研究非常重要。为了进一步提高热电材料的转化效率（热电优值），对其研究从块体慢慢转移到薄膜材料。
技术原理
动态法：测量 Seebeck 系数
在待测温场下给样品两端加一个连续变化的微小温差，通过记录样品两端温差和热电势的变化，
然后将温差和热电势拟合成一条直线，直线斜率即为该材料在该温场下的 Seebeck 系数。
采用四线法测量电阻率。 硬件特点
专门针对薄膜材料的 Seebeck 系数和电阻率测量。
采用动态法测量 Seebeck 系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。
采用四线法测量电阻率，测量更加稳定可靠。
薄膜热电参数测试系统
技术原理
动态法：测量 Seebeck 系数
在待测温场下给样品两端加一个连续变化的微小温差，通过记录样品两端温差和热电势的变化，然后将温差和热电势拟合成一条直线，直线斜率即为该材料在该温场下的 Seebeck 系数。
采用四线法测量电阻率。 硬件特点
专门针对薄膜材料的 Seebeck 系数和电阻率测量。
采用动态法测量 Seebeck 系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。
采用四线法测量电阻率，测量更加稳定可靠。
1. 实现功能：在室温温场下可同步测量Seebeck系数和电阻率；
2. 电势测量：采集系统采用商业高分辨数字万用表；
3. 温差测量：温差精度控制：+/-0.1K，控温速率：0.02–50K/min；温差控制：0-80K ；
4. Seebeck系数和电阻测量方法：Seebeck系数-静态直流法, 多温差法，电阻率-四端法；
5. Seebeck系数测量范围和分辨率：1μV/K-25V/K；测量分辨率：10nV/K；
6. 电阻率测量范围和分辨率：0.2μOhmm-2.5Ohmm；测量分辨率：10nOhmm；
7. 测量精度：Seebeck 系数 : +/- 7%，电阻率 : +/- 10%；
8. 样品尺寸：直径或正方形 6-12mm，长度6-22mm，正反面电极均可；
9. 探头测试间距：6, 8 mm，任选一种；
10. 外接电源：单相220V ，50Hz；
11. 软件：图形化界面， windows 菜单，数据采集；加热恒温降温温度程序化设计；易于操作的菜单设计，测量结果可以txt，EXC
