WH82铁铝基两用涂层测厚仪
产品介绍
WH82铁铝基两用涂层测厚仪，铁基和铝基两用快速全自动转换（无须手动操作转换）。除单点校准、两点校准和恢复出厂设置功能外，还增加了自助标定修复功能；当仪器测头因*磨损导致测试值误差超出正常范围时，用户可直接向仪器重新输入数据，修复仪器测头系统，恢复测量准确度，节约返厂时间及运输成本。
Fe质探针可检测所有非磁性涂层厚度，例如涂在钢、铁上的漆、粉末涂层、塑料、瓷等。
NFe质探针检测所有绝缘涂层厚度，例如涂在诸如铝、铜、黄铜或不锈钢等非磁性金属基体上的漆、塑料、瓷等。
WH82铁铝基两用涂层测厚仪测量原理
采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、 油漆等)及非磁性金属基体(如铜、 铝、 锌、 锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
a) 磁性法(F 型测量头)
当测量头与覆盖层接触时，测量头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。
b) 涡流法(N 型测量头)
利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测量头与覆盖层接触时，金属基体上产生电涡流，并对测量头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。
WH82铁铝基两用涂层测厚仪技术参数
测量范围 | 0-1500um |
工作电源 | 两节 5 号电池 |
测量精度误差 | 零点校准 ±(1+3%H);二点校准±【(1%～3%H)】H+1.5 |
环境温度 | 0-40℃ |
相对湿度 | ≤85% |
小基体 | 10*10mm |
小曲率 | 凸：5mm;凹 ：5mm |
薄基体 | 0.4mm |
重量 | 115 克(含电池) |
尺寸 | 102mm*66mm*24mm |
