MINITEST 720/730/740涂层测厚仪
SIDSP技术-新技术，智能数字化的涂层测厚探头
模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势
是SIDSP？
SIDSP是由ElektrPhysik(简称EPK)研发的，的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号处理为数字形式。SIDSP探头依据生产。
SIDSP工作原理？
跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您的涂层厚度值。此项的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术(手机网络)方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理的信号质量和度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。
技术数据表
SIDSP探头
探头 特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
| F | N | F | F | N | F | |
| 测量范围 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
| 使用范围 | 小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用 | 粗糙表面 | 标准探头，使用广泛 | 厚涂层 | ||
| 测量原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 |
| 信号处理 | 探头内部32位信号处理(SIDSP) | |||||
| 度 | ±(1μm+0.75%读值) | ±(1.5μm+0.75%读值) | ±(5μm+0.75%读值) | |||
| 重复性 | ±(0.5μm+0.5%读值) | ±(0.8μm+0.5%读值) | ±(2.5μm+0.5%读值) | |||
| 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
| 小曲率半径(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
| 小曲率半径(凹，外置探头) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
| 小曲率半径(凹，内置探头) | 30mm | 30mm | 30mm | |||
| 小测量面积 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
| 小基体厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
| 连续模式下测量速度 | 每秒20个读数 | |||||
| 单值模式下大测量速度 | 每分钟70个读数 | |||||
主机
型号 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
| 探头类型 | 内置 | 外置 | 内置外置可换 |
| 数据记忆组数 | 10 | 10 | 100 |
| 存储数据量 | 多10,000个 | 多10,000个 | 多100,000个 |
| 统计值 | 读值个数，小值，大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值(标准设置/自由配置) | ||
| 校准程序符合国际标准和规范 | ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准 | ||
| 校准模式 | 出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值 | ||
| 极限值监控 | 声、光报警提示过极限 | ||
| 测量单位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
| 操作温度 | -10℃-60℃ | ||
| 存放温度 | -20℃-70℃ | ||
| 数据接口 | IrDA 1.0(红外接口) | ||
| 电源 | 2节AA电池 | ||
| 标准 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 ASTM B244，B499，D7091，E376 AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 | ||
| 体积 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
| 重量 | 约175g | 约210g | 约175g(内置)/230g(外置) |
