XUV® 773 X射线荧光测试仪 商品介绍
FISCHERSCOPE X-RAY XUV仪器配有一个可抽真空的大型测量箱。其所装备的大面积硅漂移探测 器能够探测低至1 keV的荧光辐射能量，从而能够有效地测量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni 的L辐射。大孔径准直器的使用大幅提高了信号计数率，使仪器可以达到极小的重复精度和极低的测量下限。XUV非常适合测量极薄的镀层和痕量分析。
采用不同的准直器和基本滤片组合，能够保证每 一次的测量都在佳的条件下完成。在测量的同时，可以直观地查看测量点的影像。仪器测量空间宽大，样品放置便捷，配合可编程的XYZ轴工作台，既适合测量平面、大型板材类样品，也适合形状复杂的样品。并且使得连续测量分析镀层 厚度或元素分析也变得直观而简单。仪器配有一个激光定位点作为辅助定位装置，进一步方便了 样品的快速定位。
基于仪器的通用设计以及真空测量箱所带来的扩展的 测量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不仅可用 于研究和开发，也非常适合过程控制和实验室使用。
XUV® 773 X射线荧光测试仪 商品特点
带铍窗口的微聚焦X射线铑管，可选钨管和钼管。高工作条件：50 kV, 50W
X射线探测器采用珀尔帖致冷的硅漂移探测器
准直器：4个，可自动切换，从直径0.1mm到3mm
基本滤片：6个，可自动切换
可编程XYZ工作台
摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。刻度线经过校准，显示实际测量点大小。
可在真空，空气或者氦气的环境下工作
XUV® 773 X射线荧光测试仪 商品应用
测量轻元素
测量超薄镀层和痕量分析
常规金属分析鉴定
非破坏式宝石分析
太阳能光伏产业
XUV® 773 X射线荧光测试仪 实例应用
种类、来源和真实性，是评估宝石价值的本质特征；而宝石材质的分析结果则是影响判断的决定性因素。通常，宝石的主要成份是铝和硅的氧化物，还会伴随有镁和钠等元素。另外，Cr、Fe、Ga等微量元素也是很重要的。XUV可以分析所有必要元素的光谱图。
在多个领域的应用中，非常薄的Al镀层、Si镀层、氧化铝镀层和氧化硅镀层正在变得原来越重要。在真空环境中镀层厚度的测量结果有显著的提高。使用XUV来测量这些镀层，重复精度仅几个纳米。
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总部位于德国Sindelfingen的HELMUT FISCHER集团是涂层厚度和材料性能分析测试领域的。主要从事微纳米硬度仪、涂镀层测厚仪、材料分析仪、电导率和铁素体含量分析仪器的研发、生产和销售。客户遍及科研、教学和工业生产各个领域。臻善臻美的追求造就了FISCHER仪器的品质；全心全意的服务造就了FISCHER仪器良好的声誉。FISCHER测试仪器以其的技术、可靠的质量、优质的服务和专业的用户解决方案成为值得依赖的伙伴。FISCHER集团在拥有12个子公司和32个代表处，活跃在的各个角落。多年来,FISCHER测试仪器忠诚服务应用于微电子（印制电路、半导体芯片、框架和连接器等）生产、贵金属（黄金、珠宝、宝石等）分析、汽车船舶、电镀加工、油漆防腐、航天航空、太阳能光伏、石油化工、大专院校和科研机构等领域。
