主要技术指标：
1、位移灵敏度： 面内u & v 场： 417nm (1200 线/mm)，离面 w场： 266nm
2、相移灵敏度: ∽20nm/V
3、光场尺寸： 35×35mm
4、测试范围： ≤20×20mm
6、测量应变范围：10~4000微应变
7、激光器： 单纵膜，20 mw， λ=532nm
8、图像采集： CMOS摄像头，分辨率 1280 x 1024，USB接口
9、加载系统： 拉伸、压缩、弯曲三种加载方式
主要配置：
1、 主机
2、 20mW半导体激光器：1个
3、 USB摄像头(内置)：1只
4、 相移器：1个
5、 光纤：3根
6、 光纤耦合器：1套
7、 1200mm×800mm自动平衡隔振平台：1套
8、 品牌液晶台式电脑：1套
9、 拉伸、压缩、弯曲三种加载方式：1套
10、软件：1套
应用范围：
云纹干涉法是一种非接触测量面内位移和应变场的方法，具有较为广泛的应用范围。
该技术可用于测量复合材料的残余应力;测量微电子封装组件热疲劳，热湿耦合，热载荷引起的变形;可用于非接触测量航空材料在高温状态下的力学性能;还可以应用于材料构件内部的缺陷，裂纹的无损检测。应用范围非常广泛。
