MarSurf M400 的移动设备
测量室以及生产领域都越来越需要无导块扫描的表面评估。
这通常需要更熟练的操作员，更多时间和更多调整工作。
MarSurf M 400 在“移动表面度量”范围内提供了必要的功能，而且快速、简单易用。
- 移动和固定测量仪器
- 粗糙度和波纹度测量
- 扫描长度高达 26 mm
- 超过 50 R，W 和 P 表面参数
- 根据标准自动选择截止和扫描长度
- 动态校准功能
- 驱动装置和评估仪器之间可选有线和蓝牙连接 (4 m)
- 磁性测头支架（独立测头）BFW 250
- 机动测头归零设置（zui大 7.5 mm）
| 测量原则 | 探针法 |
|---|---|
| 输入 | BFW 无导块系统 |
| 测量范围 mm | +/- 250 µm（高达 +/- 750 µm，3x 测杆长度） |
| 轮廓分辨率 | 测量范围 +/- 250 µm：8 nm |
| 过滤器符合 ISO/JIS 标准 | ISO 11562 标准高斯滤波 |
| 采样长度数量符合 ISO/JIS | 1-5 |
| 接触速度 | 0,2 mm/s; 1,0 mm/s |
| 测量力 (N) | 0.75 mN |
| 重量驱动单元 | 约 0.9 kg |
| 重量测量仪 | 约 1.0 kg |
| 表面参数 | 超过 50 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W |
