HAST高压加速老化试验箱定制是一种用于评估非气密性封装IC器件、半导体、微电子芯片、磁性材料及其他电子零件在高温、高湿、高压环境下的可靠性的设备。采用干湿球温度控制、升温温度控制及湿润饱和控制等三箱控制模式，满足国际标准要求 。
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HAST高压加速老化试验箱定制是一种用于评估非气密性封装IC器件（固态设备）在高温高湿条件下的运行可靠性的设备。它适用于对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度偏压（不偏压）高加速应力寿命老化试验。以下是HAST高压加速老化试验箱的一些关键产品特点和应用领域：
精确的温湿度控制：采用干湿球温度控制、升温温度控制及湿润饱和控制等三箱控制模式，满足国际标准要求，如IEC60068-2-66、JESD22-A100至A118等。
防止结露设计：内胆采用双层圆弧设计，防止试验结露滴水现象，避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
多重保护功能：具备三道高温保护装置、湿度用水断水保护与电热断水空焚保护、机台停机时自动排除饱和蒸气压力、气动机构压力保护等。
湿度自由选择：可以选择饱和（100%R.H湿度）与非饱和（75%R.H湿度）的设定，提供更大的灵活性。
智能化控制系统：配备7寸真彩式触摸屏，拥有250组12500段程序，具有USB曲线数据下载功能，RS-485通讯接口。
易于清洁和操作：采用V型冷凝器，散热面积大，冷却效率高。冷轧板烤漆，易于保养，耐腐蚀，耐高低温。
多端口数据支持：具有USB接口，可直接复制记录历史曲线和数据，也可通过RS-232或RS-485接口控制机器并将数据存储在计算机硬盘上。
满足多种测试标准：能够满足GB/T2423.40、IEC60068-2-66、JESD22-A100至A118等多种国际测试标准。
广泛应用领域：广泛应用于IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业。
安全设计：内胆采用圆弧设计防止结露滴水，符合国家安全容器规范。
测试标准遵循：主要依据AEC-Q101标准，该标准详细定义了汽车电子器件必须通过的测试项目和条件。
高温高湿应力测试（HAST）：在高温（如130℃）、高湿（85%RH）、高压（230KPa）的条件下进行96小时测试，以加速水分对封装材料的渗透，评估器件的耐久性。
无偏置高加速温度和湿度测试（UHAST）：与HAST类似，但不施加电压偏置，用于揭示电压偏置条件下不易发现的失效模式。
通电要求：根据器件的特性，可能需要在测试过程中施加持续或循环的电压偏置。
升降温控制：在升降温过程中，要确保设备温度始终在露点温度之上，避免器件表面凝结。
功能检查：在测试前后，需要对器件的外观和电气参数进行检查，确保器件在环境下的性能没有退化。
实验设备：使用能够保持规定温度、湿度和压力的试验箱，并能够提供电气连接和记录试验周期的相关曲线。
安全措施：试验箱应具备多重保护装置，如高温保护、湿度断水保护等，以确保测试过程的安全。
国产HAST试验箱
