通用型“MarWin”测量和评定软件可完成最多样化和广泛的测量任务，同时保证其灵活性和可升级性以满足未来的需求
MarSurf XR 20
● 超过 100 种符合 ISO / JIS、ASME 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓
● 所有表面参数的公差监控和统计
● 快速创建Quick&Easy测量程序的Teach-in方法
● 全面的测量记录
● 根据标准选择滤波和扫描长度的自动功能
● 通过设置 Ra 或 Rz 参数支持各种校准方法（静态/动态）
● 可调维护和校准间隔
● 快速熟悉操作原理的模拟模式
● 多种测量站配置可使用自定义应用
附件：
● 平行虎钳
● V形块
常规软件选项：
● MarWin 主波纹度选项 (WDc)
● ISO 13565-3 表面参数选项
● QS-STAT / QS-STAT Plus 选项
● 轮廓处理选项
● 用户自定义参数选项
● MarSurf XR 1 / XR 20 选项轮廓 1
● 所有选项都在一个MLK（Mahr许可密钥）上
| MarSurf XR 20 | |
| 测量原则 | 探针法 |
| 输入 | R 测头，MFW 250 B |
| 测量范围 mm | MFW 250: ±25 mm，±250 mm，（高达 ±750 mm） ±1000 英寸，±10,000 英寸（高达 ±30,000 英寸） |
| 过滤器符合 ISO/JIS 标准 | ISO 11562 标准高斯滤波，ISO 16610-21/ISO 16610-31 标准滤波 |
| 扫描长度（文本） | 自动；0.56 mm；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm，56 mm*， 测量至挡块，可变 * 扫描长度取决于驱动装置 |
| 采样长度数量符合 ISO/JIS | 1 至 50（默认：5） |
| 表面参数 | 超过 100 种符合当前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 标准的表面参数可用于 R-、P- 和 W 轮廓 |
