OptiSurf® - 高精度低相干干涉仪，用于UV VIS和IR光学元件的中心厚度和空气间隔
| OptiSurf® 是非接触式测量单镜头、平面关系和光学系统中心厚度与空气间隔比较理想的工具。该仪器基于低相干干涉仪测量原理，经一次扫描即可测量光学系统中所有的表面距离，精度高达0.15µm。特别是，与常规系统相比。OptiSurf®大大简化了样品对于测量轴的对准过程；颇具创新性的对准工具，可调的样品支架以及简便的软件控制使无经验的操作者也能够精确的对准并进行测量。这种省时的创新使OptiSurf® 可用于生产中。 OptiSurf®是市场中可测量远红外镜头材料的设备。作为 OptiCentric® IR设备的更新， OptiCentric® IR 是红外透镜高精度组装工艺的补充。 | |
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主要特征
*具有0.15µm的中心厚度与空气间隔测量精度；
*可应用于紫外、可见与红外光学；
*轻松输入样品数据；
*可通过OptiCentric®Zmeax或镜头设计编码器中导入镜头设计对测量结果的统计分析；
*自动识别镜头表面，计算表面之间的距离；
*具有快速简便的样品对准软件工具；
*采用非接触式测量；
应用
| OptiSurf®低相干干涉仪能够测量单透镜（光学厚度达800mm）、光学系统与透镜材料的中心厚度与空气间隔。 | |
OptiSurf®软件
基于低相干干涉原理测量。
OptiSurf®软件可以分析光学系统的中心厚度和空气间隔。
主要特征
| *支持直观处理、准直与测量操作； *可通过OptiCentric®直接从Zemax或镜头设计编辑器中导入镜头设计； *自动识别表面，进行快速精确测量； *将设计数据与用于质量控制的偏差识别进行对比； *将测量结果进行统计分析、判断是否通过； *具有两个用户界面级别：用于研发（复杂分析）或生产（操作处理）； | |
| OptiSurf® | OptiSurf®Ultra Precision | OptiSurf® IR** | |
| 测量精度 | 1 µm* | 0.15 µm* | 微米量级*** |
| 重复率 | 0.5 µm | < 0.75µm | 微米量级*** |
| 光源波长 | 1.3 µm,色散(MIN) | 1.3 µm,色散(MIN) | 2.2 µm,测量红外材料 |
| 扫描范围 | 可达800 mm；光学距离：依需求可更大 | 可达800 mm；光学距离，依需求可更大 | 依需求 |
| 温度计气压传感器 | 可升级 | 可升级 | 可升级 |
| 电脑接口 | USB | USB | USB |
| 基于相机的准直工具 | 可升级 | 配有 | 可升级 |
| 激光器级别 | 1 | （2 ） | 1 |
*依据 2σ100mm 光学平面空气间隔的测量标准
**仅与OptiCentric组合式可用
***取决于样品
供货范围
*通过软件调焦的镜头；
*可见激光束，用来准直；
*电动线性滑台；
*斜坡与转换台；
*OptiCentric® 软件；
升级与配件
*用于快速方便的对准样品的光学准直对准工具；
*集成在仪器底座汇总的测量头（不需要与OptiCentric®组合使用）；
*依国际标准认证的OptiCentric®参考样品；
