GaN 和 SiC测试的理想探头
DL-ISO 探头具有 1 GHz 带宽、2500 V 差分输入范围和 60 kV 共模电压范围，非常适合 GaN 和 SiC 器件表征。
测量精度
DL-ISO 探头与业内**的 12 位高精度示波器 (HDO) 相结合，可获得 1.5% 的系统精度，几乎是市场上替代解决方案的两倍。
**的信号完整性
在 测 量 过 程 中 ，很 难 获 得 真 实 的 信号，DL-ISO通过提供业界**的信号保真度、的上升时间、**的过冲和低 DUT 负载来克服这一挑战。
丰富的连接方式
DL-ISO 探头通过采用高质量同轴衰减前端来提高测量信心，该前端可抑制不需要的噪声，并使用行业标准 MMCX 连接器或高压安全方形排针端接至测试板。
测量精度
• 的系统精度-1.5%
• 160 dB的高共模抑制比可以有效抑制噪声
• 12 位高精度示波器上的精确增益校准可提供**结果
**的信号保真度
• 再现真实信号
• 探头负载小，过冲最小
• 很快的上升时间（435ps）–非常适合捕获高dV/dt 的GaN 和 SiC 波形
丰富的连接方式
• 使用行业标准 MMCX 连接器轻松与测试板连接
• 使用兼容的方形排针安全测试1000V 和 2500 V
• 使用高质量同轴引线提高 EMI/RF 抗扰度并减少杂散噪声拾取
主要特性：
• 1GHz带宽
• GaN 和 SiC测试的理想选择
• 1.5%的系统精度
• 上升时间：435 ps
• 高共模抑制比-160 dB
• 灵活的连接方式
• 无需断开连接也可自动归零
主要应用：
• 服务器
•主板
• 照明和楼宇自动化
• 住宅逆变器
• UPS
• 开关电源
• 家用和商用电器中的电机
