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PILATUS 4 R CdTe-瑞士DECTRIS(德科特思)混合像素光子计数X射线探测器

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  • 所在地北京市
  • 更新时间2025-02-15
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北京优纳珂科技有限公司是瑞士DECTRIS在中国同步辐射和实验室领域总代理商,负责DECTRIS产品在中国的软硬件售前、售后服务工作;以及瑞典EXCILLUM公司OEM合作伙伴,负责EXCILLUM公司产品在中国的安装售后服务工作。同时也是德国STOE公司、英国牛津OxfordCryosystems公司、德国MarXperts公司负责在中国的驻华销售办事处及售后服务中心,专业从事X-射线散射及衍射结构分析类仪器及相关配件、耗材在国内推广、销售及研发与生产,我们经过不懈努力向客户提供全集成的,高附加值的解决方案。

我公司目前的主要产品为X-射线散射及衍射专业领域的所有应用产品,主要包括生物大分子、小分子及高压全套单晶衍射仪(XRD)、粉晶衍射仪(XRD),小角广角X射线散射仪(SAXS/WAXS)、X射线成像,及配套的高低温设备,高压设备,拉伸装置,X-光强度测试仪,各种配套用测角仪和样品台,较新性能的探测器等全系列X射线结构分析类产品。
仪器设备的应用覆盖从基础研究到工业质量控制的材料性能表征,涉及元素分析,材料研究,结构分析等等, 我们通过提供高精密度,高分辨率的仪器设备来保证包括化学,化工,冶金、石油,材料,制药,半导体,生命科学,纳米技术的企业客户和学术研究单位对单晶及粉晶的结构分析及各类材料的小角广角散射分析的创新型的科研需要。
- 对新型化合物、 催化剂、 医药, 天然产物,蛋白质,核酸等需明确表征分子的三维(3D)原子 结构的结构分析等
- 无机晶相,有机晶相,多功能材料等的物相定性、定量分析,矿物的X射线定性、定量分析等
- 纳米结构分析(形状、尺寸和内部结构),分散稳定性,颗粒成核现象,孔隙度(比表面),结晶度和取向,溶液中的生物大分子(Bio-SAXS),纳米结构表面 (GISAXS)等。
我公司以诚信、质量、效率为追求目标,以*为依托,本着“客户至上”的原则,提供专业的产品、 技术服务与支持,满足客户日益复杂化和多样化的需求。
欢迎来电来函咨询有关业务。我们将以饱满热忱的服务让您满意!





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PILATUS 4 R CdTe-瑞士DECTRIS(德科特思)混合像素光子计数X射线探测器 产品详情
凭借高于 95% 的量子效率,及其高达 155 x 162 毫米的极大有效面积,PILATUS4 R CdTe 探测器可对基于从铜(Cu)到铟(In)的任何X射线源的快速数据收集。特别是对于钼(Mo)、银(Ag)和铟(In)辐射,PILATUS4 R CdTe 的性能优于任何配有硅传感器的 HPC 探测器 - 甚至包括目前拥有最厚的硅传感器的 PILATUS3。 PILATUS4 凭借出色的计数率和无探测器背景噪声的特点,实现了跨越十个数量级的广泛动态范围,高达 200Hz 的内部帧速,进一步优化了计数率校准,从而确保高强度测量的高度准确性。此外,PILATUS4 还具备四个能量区分阈值,为劳厄衍射和光谱成像等应用带来了新的可能。
PILATUS 4 R CdTe
1M 260K 260K-W
有效成像面积 (W x H) [mm²]
155.0 x 162.0
77.0 x 79.5
155.0 x 38.3
像素阵列 (W x H)
1,033 x 1,080
513 x 530
1,033 x 255
像素大小 (W x H) [µm²]
150 x 150
150 x 150
150 x 150
能量范围 [keV]
8 - 25 (8 - 100)1
8 - 25 (8 - 100)1
8 - 25 (8 - 100)1
能量阈值数量
4 4 4
阈值范围 [keV]
4 - 30 (4 - 80)1
4 - 30 (4 - 80)1
4 - 30 (4 - 80)1
计数率 [ph/s/pixel]
5.0 x 106
5.0 x 106
5.0 x 106
帧频 [1] (max.) [Hz]
10 100 100
读出时间[2]
Continuous
Continuous
Continuous
传感器材料
Cadmium telluride (CdTe)
Cadmium telluride (CdTe)
Cadmium telluride (CdTe)
传感器厚度 [µm]
1,000 1,000
1,000
点扩散函数 (FWHM) [pixels]
1 1 1
尺寸(W x H x D) [mm³] 
235 x 237 x 372
114 x 133 x 242
192 x 92 x 277
重量 [kg]
15 4.7 5.8

关键词:传感器
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