AE-381A 容量测试仪1MHz/1kHz/120Hz-仪表网

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我司代理日本ADEX元件测试仪，是日本ADEX公司*的维修点。

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超高速：0.3msec.[1MHz]、1msec.[1kHz]、8.34msc.[120Hz]（FAST测量中的时间）通过测量值异常检知可得知２端子测量时探测头接触不良的情况可４端子接触检测测量频率：1MHz/1kHz/120Hz±0.1%(正弦波)可BIN测量：C 14分类及Outof bin可在串联等效电路和并联等效电路之间切换定电压测量（只适用......

AE-381A 容量测试仪1MHz/1kHz/120Hz 产品详情

测量范围及基本精确度 (ＤF < 0.1周围温度23℃±5℃）

量程	测量范围	分辨率	精确度[FAST测量时为下记精确度的2倍]			测量电压[rms]
量程	测量范围	分辨率	1MHz	1kHz	120Hz	测量电压[rms]
1.5pF	0.0000pF～1.5000pF	0.0001pF	C:±1.0% of rdg±50dg以内	---	---	1V±5% 0.5V±5%
1.5pF	0.0000pF～1.5000pF	DF:0.01	DF:±0.005±0.0001×(Cr/Cx)以内	---	---	1V±5% 0.5V±5%
15pF	0.000pF～15.000pF	0.001pF	C:±0.25% of rdg±25dg以内	C:±0.25% of rdg±25dg以内	---	1V±5% 0.5V±5%
15pF	0.000pF～15.000pF	DF:0.01	DF:±0.002±0.0005×(Cr/Cx)以内	DF:±0.002±0.00025×(Cr/Cx)以内	---	1V±5% 0.5V±5%
150pF	0.00pF～150.00pF	0.01pF	C:±0.15% of rdg±10dg以内	C:±0.15% of rdg±10dg以内	---	1V±5% 0.5V±5%
150pF	0.00pF～150.00pF	DF:0.01	DF:±0.001±0.0001×(Cr/Cx)以内	DF:±0.001±0.0001×(Cr/Cx)以内	---	1V±5% 0.5V±5%
1.5nF	0.0pF～1500.0pF	0.1pF	C:±0.15% of rdg±10dg以内	C:±0.15% of rdg±10dg以内	---	1V±5% 0.5V±5%
1.5nF	0.0pF～1500.0pF	DF:0.01	DF:±0.001±0.0001×(Cr/Cx)以内	DF:±0.0005±0.0001×(Cr/Cx)以内	---	1V±5% 0.5V±5%
15nF	0.000nF～15.000nF	0.001nF	---	C:±0.15% of rdg±10dg以内	---	1V±5% 0.5V±5%
15nF	0.000nF～15.000nF	DF:0.01	---	DF:±0.0005±0.0001×(Cr/Cx)以内	---	1V±5% 0.5V±5%
150nF	0.00nF～150.00nF	0.01nF	---	C:±0.15% of rdg±10dg以内	---	1V±5% 0.5V±5%
150nF	0.00nF～150.00nF	DF:0.01	---	DF:±0.0005±0.0001×(Cr/Cx)以内	---	1V±5% 0.5V±5%
1.5µF	0.0nF～1500.0nF	0.1nF	---	C:±0.15% of rdg±10dg以内	C:±0.15% of rdg±10dg以内	1V±5% 0.5V±5%
1.5µF	0.0nF～1500.0nF	DF:0.01	---	DF:±0.0005±0.0001×(Cr/Cx)以内	DF:±0.0005±0.0001×(Cr/Cx)以内	1V±5% 0.5V±5%
15µF	0.000µF～15.000µF	0.001µF	---	C:±0.3% of rdg±20dg以内	C:±0.15% of rdg±10dg以内	1V±5% 0.5V±5%
15µF	0.000µF～15.000µF	DF:0.01	---	DF:±0.001±0.0002×(Cr/Cx)以内	DF:±0.001±0.0002×(Cr/Cx)以内	1V±5% 0.5V±5%
150µF	0.00µF～150.00µF	0.01µF	---	C:±1% of rdg±50dg以内	C:±0.5% of rdg±25dg以内	1kHz：1V/0.5V＋5%～-20% 120Hz：0.5V±5%
150µF	0.00µF～150.00µF	DF:0.01	---	DF:±0.005±0.0005×(Cr/Cx)以内	DF:±0.003±0.0005×(Cr/Cx)以内	1kHz：1V/0.5V＋5%～-20% 120Hz：0.5V±5%
1.5mF	0.0µF～1500.0µF	0.1µF	---	---	C:±1.5% of rdg±50dg以内	120Hz/0.5V＋5%～－25%
1.5mF	0.0µF～1500.0µF	DF:0.01	---	---	DF:±0.01±0.001×(Cr/Cx)以内	120Hz/0.5V＋5%～－25%

※测量电压为0.5V情况时上记精确度则为2倍

测量方式	5端子[3端子]测量方式
测量频率	1MHz/1kHz/120Hz±0.1%、正弦波
测量信号输出阻抗	约2Ω
寄生电容修正范围	约20pF
温度系数	±100ppm/℃以内
测量时间	【空转周期】FAST：约1～5次/秒 SLOW：FAST×N(N:平均值设定次数) 【启动触发信号】FAST：0.3msec.[1MHz]、1msec.[1kHz]、8.34msec.[120Hz]、
测量范围	Capacitance：0～15000 DF：0.0000～0.5000 Q：0～10000
BIN测量	C:14分类及Out of bin
周围使用环境	温度：0℃～+50℃、　湿度：85%以下
所需电源	AC85V～265V、50～60Hz、约50VA
外形尺寸	250(W)×99(H)×300(D)mm（不含底部橡胶等突起部分）
重量	约3.5kg

AE-3245A 5分類電容計

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