HTS-100型四探针温控测试系统-仪表网

公司介绍主营产品

广州四探针科技有限公司组建于一九九八年。多年来，在社会各界的支持和全体员工的不懈努力下，我们在半导体材料专用测试仪器销售领域建立起很高的度和信誉度，现已拥有完善的市场体系、营销管理体系和客户服务体系。我们的宗旨是致力于测试和测量科技的沟通与倡导，用诚挚的服务帮助用户提高工作效率和能力，并通过积极的奋斗与追求，为自身发展营造机会、利润与能量。本公司的产品是以自主研制产品为主兼代理销售其它国内外半导体测试仪器公司的产品。满足各行业的不同需要，仪器和配件系列已广泛应用于半导体材料、太阳能电池、功能材料、电子器件的生产单位、科研院所和高等院校。主要产品：四探针测试仪、方块电阻测试仪、导电类型鉴别仪、单晶少子寿命测试仪、CV电容电压特性测试仪、恒流源、探针测试台，探针头、测试软件、按用户需求提供相应测试解决方案。用户是我们生存的基础。我们对用户的态度是积极负责。我们凭借完整的管理体系了解和总结用户的需求，并将我们的服务在没有任何折扣的条件下直接送达，与其共同感受科技带给我们的高效和快捷。我们决不辜负用户对我们的信任，以充分发挥和完善我们基于制造商、用户之间的桥梁作用。本公司在市场日益走向世界化的今天，全体员工各尽所长，相互合作，秉承“客户满意、服务快捷、创新进取、永续经营”的经营宗旨，以确保用户得到更优质的产品和更高质量的服务

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HTS-100型四探针温控测试系统测试样品电阻率、方块电阻、电阻在不同温度时的数值，并绘出数值随温度变化的曲线

HTS-100型四探针温控测试系统产品详情

HTS-100型四探针温控测试系统

	测试样品电阻率、方块电阻、电阻在不同温度时的数值，并绘出数值随温度变化的曲线；
	当不使用温控功能测试时，可用作常规四探针测试；

HTS-100型四探针温控测试系统主要用于材料在不同温度时导电性能的评估和测试，分析被测样品电阻率、方块电阻、电阻随温度变化的数据和曲线。该仪器运用四探针测量原理，按照四探针测试方法的国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的。
仪器由四探针测试仪、温控系统、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。
仪器采用了电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。
本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对材料的电阻性能测试。

HTS-100型四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。
测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析

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技　术　指　标 ：

测量范围	电阻率：10^-5～10⁵ Ω.cm(可扩展)；方块电阻：10^-4～10⁶ Ω/□(可扩展)；电导率：10^-5～10⁵ s/cm；电阻：10^-5～10⁵ Ω；
温控范围	常温～100℃(可扩展)
温控精度	±1℃
恒流源	电流量程分为1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六档，各档电流连续可调
数字电压表	量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　分辨力：10μV；输入阻抗：>1000MΩ；精度：±0.1% ；
四探针探头基本指标	间距：1±0.01mm；针间绝缘电阻：≥1000MΩ；机械游移率：≤0.3%；探针：碳化钨或高速钢Ф0.5mm；探针压力：5～16 牛顿(总力)；
模拟电阻测量相对误差	0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%
整机测量相对误差	(用硅标样片：0.01-180Ω.cm测试)≤±4%
整机测量标准不确定度	≤4%
测试标准和方式	可选用单电测测试方法或双电测测试方法两种方法进行温控测试，当不使用温控功能测试时，可用作常规四探针测试。
软件功能	软件可记录、保存、打印每一点的测试数据，并统计分析测试数据值、最小值、平均值、百分变化、平均百分变化、径向不均匀度、并将数据生成随温度变化的曲线图，也可把测试数据输出到Excel中，对数据进行各种数据分析。软件还可选择自动测量功能，根据样品电阻大小自动选择适合电流量程档测试。
标准使用环境	无高频干扰；无强光直射；

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关键词：标准电压表

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