ST-21L型方块电阻测试仪-仪表网

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广州四探针科技有限公司组建于一九九八年。多年来，在社会各界的支持和全体员工的不懈努力下，我们在半导体材料专用测试仪器销售领域建立起很高的度和信誉度，现已拥有完善的市场体系、营销管理体系和客户服务体系。我们的宗旨是致力于测试和测量科技的沟通与倡导，用诚挚的服务帮助用户提高工作效率和能力，并通过积极的奋斗与追求，为自身发展营造机会、利润与能量。本公司的产品是以自主研制产品为主兼代理销售其它国内外半导体测试仪器公司的产品。满足各行业的不同需要，仪器和配件系列已广泛应用于半导体材料、太阳能电池、功能材料、电子器件的生产单位、科研院所和高等院校。主要产品：四探针测试仪、方块电阻测试仪、导电类型鉴别仪、单晶少子寿命测试仪、CV电容电压特性测试仪、恒流源、探针测试台，探针头、测试软件、按用户需求提供相应测试解决方案。用户是我们生存的基础。我们对用户的态度是积极负责。我们凭借完整的管理体系了解和总结用户的需求，并将我们的服务在没有任何折扣的条件下直接送达，与其共同感受科技带给我们的高效和快捷。我们决不辜负用户对我们的信任，以充分发挥和完善我们基于制造商、用户之间的桥梁作用。本公司在市场日益走向世界化的今天，全体员工各尽所长，相互合作，秉承“客户满意、服务快捷、创新进取、永续经营”的经营宗旨，以确保用户得到更优质的产品和更高质量的服务

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ST-21L型方块电阻测试仪ST-21L型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻

ST-21L型方块电阻测试仪产品详情

ST-21L

型

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阻

测

试

仪

ST-21L型方块电阻测试仪是一种依照类似的国家标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的新型仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。

该仪器以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源；带回路有效正常指示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

◆ 特点：

采用大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定，低功耗；

以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；

采用单个电池供电，带电池欠压指示；

体积≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；

特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜

探头带抗静电模块

◆ 技术指标：

测量范围	按方块电阻量值大小分为二个量程档： 1.方块电阻 1.000～19.999Ω/□； 2.方块电阻 10.00～199.99Ω/□；最小分辨率：0.001Ω/□
恒流源	测量过程误差：≤±0.8%
模数转换器	量程：0～199.99mv；分辨率：10μv；方式：LCD大屏幕显示；极性，超量程均自动显示；小数点同步显示；
测量不确定度	在整个量程范围内，测量不确定度≤5%
四探针探头规格	间距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ
电源	使用一节450mAH的锂电池

◆ ST-21L方块电阻测试仪可选配HP系列四探针探头的型号及规格：

型号 (Model)	曲率半径 (Radius)	压力 (loads)	探针间距 (spacing)	探针排列 (Arrangement)
HP-501	0.5mm	100g	3.8mm	直线
HP-502	0.75mm	100g	3.8mm	直线
HP-503	0.1mm	150g	1mm	直线
HP-504	0.5mm	100g	1.59mm	直线

◆ ST-21L方块电阻测试仪可选配SP-601型方型四探针探头的型号及规格：

型号 (Model)	曲率半径 (Radius)	压力 (loads)	探针间距 (spacing)	探针排列 (Arrangement)
SP-601	0.5mm	100g	1.59mm	方形

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关键词：电阻测试仪标准模数转换器

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