非接触式膜厚测量仪E-80-仪表网

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易泛特技术（深圳）有限公司成立于2016年，有多名行业专家，致力于为行业客户提供业界的高分辩率、非接触式3D测量系统；Effecttek 3D测量系统采用白光和红光等纳米级分辩率的光学器件，配合高精度X/Y/Z移动平台和强大的3D软件算法处理，帮助用户解决精密测量难题，包括：线宽膜厚测量、高度差测量、平面度测量、共面度测量、粗糙度测量等，对透明材质的多层测量也得心应手；产品广泛应用于微电子、半导体、5G、3D玻璃、新型医疗、精密工业制造等领域，提供从产品研发、设计到加工验收的高精度测量支持。

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非接触式膜厚测量仪E-80产品描述:◆非接触光学测量系统◆应对各种高反光、高透光材质◆高速采样

非接触式膜厚测量仪E-80 产品详情

非接触式膜厚测量仪 E-80

产品描述:

◆非接触光学测量系统

◆应对各种高反光、高透光材质

◆高速采样，周期20µs

◆强大的CPK统计功能

◆测量轮廓、断差、槽深、膜厚等

技术：

◆采用白光共焦技术，分辨率达到纳米级，同时采用了光纤传感器，具有抗干扰、损耗低、安全隔离、可靠性高等优点

◆机械精度达到微米级，运行平稳，跳动小，磨损低

◆Y向自动测量，重复精度1μm

应用：

◆环氧树脂测量

◆印刷图形测量

◆激光打标测量

◆焊膏厚度测量

◆表面膜厚测量

设备技术参数:

项目	技术参数
外观尺寸	650mm500mm600mm
测量扫描行程	80mm
Z轴可调行程	50mm
有效测量范围	60mm
扫描最小步距	2um
扫描速度	30mm/s
测试重复精度	20nm(标样)
电源	AC220V±10%,50-60 Hz

关键词：测量仪光纤传感器

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