产品特点：
1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查
LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速测量基本精度±0.08%的高精度测量
适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量，电感器（线圈、变压器）的DCR和L-Q的测量
分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量
可以用于无线充电评价系统TS2400
搭配4ch扫描模块机架，更能实现2MHz阻抗的4ch测量
产品功能：
低电容(高阻抗)测量，提高稳定性和以往的产品相比，将测量低电容(高阻抗)时的重复精度提高了一位。
例如：１pF(1MHz，1V)的条件下，测量速度SLOW2的话，重复精度(偏差)*可达0.01%，实现稳定测量。
同时，因为也提高了相位的重复精度，所以提高了低电容(高阻抗)测量时的D测量的稳定性。
重复精度(偏差)是在*大和*小之差的基础上计算出来的。
广范围的测量频率
IM3570可在DC和4Hz～5MHz的范围内以5为分辨率(1kHz以下为0.01Hz分辨率)设置频带。可进行共振频率测量和接近工作条件状态下的测量和评估。
15种参数测量
可测量Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q的参数，还可以将需要的参数读取至计算机中。
具备接触检查功能(开路检查)
按照4端子测量(仅低阻抗高精度模式时)，2端子测量的接触检查功能，可以防止测试端子未接触被测物时进行误测。
比较器
LCR模式下，可在1个画面中从测量项目里判定2种参数的Hi/IN/Lo。判定方法除了**值设定以外，还有%设定、Δ%设定。使用连续测量，可判定多个测量条件·测量项目。
BIN测量
可对2个项目进行10个分类和范围外的分类。
分区设置
扫频范围可通过设定多测试801个频点，分成20个频率区间。可以详细评估在多个频率区间内的特性。
内部可发生DC偏置电压
只需主机即可施加大2.5V的DC偏置电压进行测量。可放心对钽电容等极性电容器进行测量。充电阻抗为100Ω。
高分辨率，大7位显示
可进行多7位显示的高分辨率测量。可设置3~7位的显示位数。
测试线长可达4m
4端子的构造降低了测试线的影响，测量线长0、1、2、4m时，保证测试精度。自动设备的排线方便简单。(根据线长的不同，精度保证的频率范围也不同。
