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  • 高频塑料介电常数测试仪介质损耗因数测试仪

GDAT-A 高频塑料介电常数测试仪介质损耗因数测试仪

参考价
面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号GDAT-A
  • 品牌
  • 所在地北京市
  • 更新时间2025-04-16
  • 厂商性质生产厂家
  • 所在地区北京市
  • 实名认证已认证
  • 产品数量943
  • 人气值3193
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北广公司以精美的产品、*的技术、精良的品质、精心的服务赢得了广大用户和*,产品全国,自2012-06-12创立,规模逐步发展壮大,凭着过硬的生产技术、丰富的管理经验,优质的客户服务和良好的企业信誉,在试验机行业不断进步。在短时间内完成了企业创建、完善、发展完善的过程,试验仪市场广阔,产品已经销售到全国。      

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高频塑料介电常数测试仪介质损耗因数测特点: ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。◎ 能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。
高频塑料介电常数测试仪介质损耗因数测试仪 产品详情

 高频塑料介电常数测试仪介质损耗因数测试仪特点: 

◎ 本公司创新的自动Q值保持技术,使测Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz~120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH,保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz~60MHz, 50kHz~160MHz测试信号。独立信号   源输出口,所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。


高频塑料介电常数测试仪介质损耗因数测试仪主要技术指标:

2.1 tanδ和ε性能:

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz~120MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围:

tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε测量精度(1MHz):

tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

工作频率范围:50kHz~50MHz    四位数显,压控振荡器

Q值测量范围:1~1000三位数显,±1Q分辨率

可调电容范围:40~500 pF  ΔC±3pF

电容测量误差:±1%±1pF

Q表残余电感值:约20nH



电感器:

按测试频率要求,需要配置不同量的电感器。

例如:在1MHz测试频率时,要配250μH电感器,在50MHz测试频率时,要配0.1μH电感器等。


高频介质样品(选购件):
在现行高频介质材料检定系统中,检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。

该样品由人工蓝宝石,石英玻璃,氧化铝陶瓷,聚四氟乙烯,环氧板等材料做成Φ50mm,厚1~2mm测试样品。用户可按需订购,以保证测试装置的重复性和准确性。



装置:

2.3.1 平板电容器极片尺寸::Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率:0~8mm, ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性: 0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圆筒电容器可调范围:±12.5mm(±4.2pF)
2.3.5 装置插头间距:25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-4


主要技术特性:介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至zui低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。


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