介电常数介质损耗测试仪特点：
◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。
◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。
◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。
◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。
◎ Q值量程自动/手动量程控制。
◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。
◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。
介电常数介质损耗测试仪装置：
2.3.1 平板电容器极片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二种.
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性： 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圆筒电容器可调范围：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 装置插头间距：25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:≤2.5×10-4
介电常数介质损耗测试仪主要技术指标：
2.1 tanδ和ε性能：
2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。
2.1.2 tanδ和ε测量范围：
tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50
2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：
tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%
工作频率范围：50kHz～50MHz 四位数显，压控振荡器
Q值测量范围：1～1000三位数显，±1Q分辨率
可调电容范围：40～500 pF ΔC±3pF
电容测量误差：±1%±1pF
Q表残余电感值：约20nH
介电常数介质损耗测试仪电感器：
按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。
例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。
高频介质样品（选购件）：
在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。
该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。
介电常数介质损耗测试仪工作原理
本测试装置主要由一个数显的微测量装置和一组间距可调的平板电容器组成，平板电容器用于夹持被测材料样品。而数显的微测量装置，用于显示被测材料样品的厚度。配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进材料样品时的Q值变化，可测得绝缘材料的损耗角正切值。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算可得到绝缘材料介电常数。
介电常数介质损耗测试仪工作特性
- 平板电容器：极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选极片间距可调范围≥15mm
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
4．测微杆分辨率：0.001mm
本测试装置主要由一个数显的微测量装置和一组间距可调的平板电容器组成，平板电容器用于夹持被测材料样品。而数显的微测量装置，用于显示被测材料样品的厚度。配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进材料样品时的Q值变化，可测得绝缘材料的损耗角正切值。同时，由平板电容器的刻度读值变化而换算可得到绝缘材料介电常数。
材料介电常数介质损耗测试仪注意事项：
1． 测试装置使用结束后，请及时关闭液晶显示屏的电源，可延长电池的寿命。如果电池发出电压低报警，应及时更换电池保证测量的精度。电池更换位置位于液晶显示屏的被面十字盖冒下。用工具将十字盖冒逆时针旋转约45°，既可取下十字盖冒，更换电池。
2．本测试装置是由精密机械构件组成的测微设备，所以在使用和保存时要避免振动和碰撞，要求在不含腐蚀气体和干燥的环境中使用和保存，用户不能自行拆装，否则其工作性能就不能保证，如测试夹具受到碰撞，可以送生产厂家定期检查，要检测以下几个指标：
- 平板电容器二极片平行度在0-5mm间连续不超过0.05 mm。
- 圆筒电容器的轴和轴同心度误差不超过0.1mm。
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