LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪
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一、介电常数介质损耗测试仪概述：
LJD-B型介电常数及介质损耗测试仪是我公司*研制生产的产品，自该产品实现销售后，我公司工程师就一直持续不断对产品改进升级；特别是在软件上不断地加以完善，改进了早期产品存在的不足之处，提高了测试精度，并增加新的功能。但近期我公司发现，一些没有研发能力的不良公司，盗版了我公司早期产品的软件，仿制我公司的产品进行销售，给不了解情况的客户将带来损失。因为这些产品的软件存在不足之处，（如在主电容调节至80pf左右时，电容指示值会出现跳变，出现180pf左右的指示值；在介质损耗测试时，当材料的损耗较大时，介质损耗值会出现错误。）但又无法得到升级完善，产品没有新增的功能。因此请广大用户注意识别。
二、介电常数介质损耗测试仪技术参数：
信号源频率范围： DDS数字合成 10KHz-70MHz
Q测量范围： 1-1000自动/手动量程
信号源频率覆盖比： 6000:1
Q分辨率： 4位有效数,分辨率0.1
信号源频率精度： 3×10-5 ±1个字,6位有效数
Q测量工作误差： <5%
电感测量范围： 15nH-8.4H,4位有效数,分辨率0.1nH
调谐电容： 主电容30-500PF
电感测量误差： <5%
调谐电容误差和分辨率： ±1.5P或<1%
标准测量频点： 全波段任意频率下均可测试
Q合格预置范围： 5-1000声光提示
谐振点搜索： 自动扫描
Q量程切换： 自动/手动
谐振指针： LCD显示
LCD显示参数： F,L,C,Q,波段等
三、夹具工作特性
1.平板电容器：
极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选
极片间距可调范围：≥15mm
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
4．测微杆分辨率：0.001mm
四、配置：
主机一台
电感九支
夹具一套
随机文件一套
LJD-C型介电常数及介质损耗测试仪
一、概述：
LJD-C型介电常数及介质损耗测试仪作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前高的160MHz.LJD-C介电常数测试仪采用了多项技术：
双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。
自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。
全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。
DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。
计算机自动修正技术和测试回路*化 —使测试回路 残余电感减至zui低，** Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
LJD-C介电常数及介质损耗测试仪的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。
二、主要技术特性：
Q 值测量范围: 2 ～ 1023,量程分档：30、100﹑300﹑1000，自动换档或手动换档
固有误差:≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）,≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
工作误差:≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）,≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）
电感测量范围: 4.5nH ～ 140mH
电容直接测量范围: 1 ～ 200pF
主电容调节范围: 18 ～ 220pF
主电容调节准确度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 ％
信号源频率覆盖范围: 100kHz ～ 160MHz
频率分段 （ 虚拟 ）: 100 ～ 999.999kHz, 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz,100 ～ 160MHz
频率指示误差 :3 × 10 -5 ± 1 个字
三、夹具工作特性
1.平板电容器：
极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选
极片间距可调范围：≥15mm
2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm
3. 夹具损耗正切值≤4×10－4 （1MHz）
4．测微杆分辨率：0.001mm
四、配置：
主机一台
电感九支
夹具一套
随机文件一套
