LST-331普通四探针方阻电阻率测试仪
一、LST-331四探针方阻电阻率测试仪描述：
采用范德堡测量原理能解决样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，提供通讯接口，PC软件数据处理及数据分析.中文或英文语言版本.
二.LST-331四探针方阻电阻率测试仪参照标准：
硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国标设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.
三.适用范围：
适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表
用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品
规格型model | LST-331 |
1.方块电阻范围 | 10^-5～2×10^5Ω/□ |
2.电阻率范围 | 10^-6～2×10^6Ω-cm |
测试电流范围 | 0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA |
4.电流精度 | ±0.1% |
5.电阻精度 | ≤0.3% |
6.显示读数 | 液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率 |
7.测试方式 | 普通单电测量 |
8.工作电源 | 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W |
9.误差 | ≤4%（标准样片结果） |
10.选购功能 | 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻. |
11.测试探头 | 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针 |
12.标准电阻（选购） | 规格：1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
四、.型号及参数
五、标准配置外订购明细：
序号 | 型号 | 品名 | 单位 | 数量 | 备注 |
1 | 340-CSX | 测试线 | 套 | 1 | |
2 | 09A | 标准电阻 | 个 | 1-5 | 选购规格和数量 |
3 | 06A | 四探针测试平台 | 套 | 1 | 含探头1个 |
4 | 06B | 四探针探头 | 个 | 1 | 方型或直线型选购 |
5 | 340-TTZ | 镀金弹簧铜针4根 | 组 | 1 | 4根为一组 |
6 | 340-WTZ | 弹簧钨针4根 | 组 | 1 | 4根为一组 |
7 | 340-RJ | 分析软件 | 套 | 1 | |
8 | PC | 电脑+打印机 | 套 | 1 | 依据客户要求配置 |
9 | 300-JL | 检测技术服务 | 份 | 1 | 计量证书1份 |
10 | WDCGQ | 温度传感器 | 套 | 1 | 常温-125度 |
331-YB | 延保服务 | 年 | 1-3 |
