蔡司 METROTOM工业CT断层扫描测量机

蔡司 METROTOM断层扫描测量机——测量技术的新革命

蔡司 Metrotomo融合了计量学和断层X射线摄影法,开创了不可预期的可能性。在此之前只能检测或根本不能进行质量保证的场合,现在可以进行高精度和无损测量。

断层扫描分析如同在工件内部测量:所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。无损检测技术,例如：装配检查、损伤和气孔分析、材料检验或损坏检查,如同测量评估、逆向工程应用或几何比较一样。

在此之前或许不能检测，或只能通过耗费时间和成本的接口进行检测的场合，现在断层扫描分析可以快速明确地检测误差。 

重要特征

深思熟虑的设计

● 三维计算机断层扫描分析带有微聚焦X射线管和探测器

● 用于装夹工件的转台和蔡司的运动单元

安全技术

● 全防护测量间

● 满足了根据DN54113标准的用于结构类型许可全封闭仪器的防护射线条例

● 根据人机工程学优化的设计(专用上料位置)

机器技术

来自卡尔蔡司的精密运动系统；

● 自加工的精密机械组件             ● 导轨误差补偿(CAA计算机辅助误差修正技术)

气浮轴承转台：

● 蔡司原装转台,配有直接驱动      ● 自产气浮轴承

● 载荷(中心):500N                ● 轴向误差fa=0.1μm,径向误差fa=0.2μm

使用断层成像技术优化产品内部工艺

● 装配检查                         ● 模具修复——几何量对比              ● 材料分析                               

● 几何量测量                     ● 无损瑕疵检测                                ● 逆向工程

● 孔隙率分析                     ● 损害分析

针对设备的验收测试阶段,卡尔蔡司使用基于VDI/VDE 2630开发的标准器具,同时可提供测量不确定性的相应对比测试及测量机的测量系统分析。