一、设备名称：显微推拉力测试仪
二、设备型号：GH-8001C
三、产品说明：
显微推拉力测试仪（微焊点强度测试仪器）是用于微电子封装和pcba电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器，是微电子和电子制造领域的重要仪器设备。可自动完成测试并记录测试数据、并能显示力-位移、力-时间的坐标曲线参，并能保存测试数据和生成测试报表。双显示系统实时高清放大测试过程。
四、测试功能:
1、内引线拉力测试；
2、微焊点推力测试；
3、芯片剪切力测试；
4、SMT焊接元件推力测试
五、技术参数:
1.型号：GH-8001C
2.精度等级：0.5级；
3.负荷：100N，200N,500N(任选）
4.有效测力范围：0.3-99%；
5.测力精度：示值的±0.5%以内；
6.试验力分辨率：1/500,000，且全程分辨率不变；
7.有效试验宽度：200 mm；
8.有效试验长度：200 mm；
9.有效试验高度：200 mm；
10.测试头配置:推力测试头一个
11.试验速度范围：0.01～200mm/min无级调速；
12.XY轴移动速度：0.01～500mm/min无级调速；
13.速度精度：示值的±0.5%以内；
14.位移测量精度：示值的±0.5%以内；
15.功率：AC220V±10%1200W；
16.主机尺寸：650×550×1400mm(l*w*h)；
17.主机重量：约130kg；
*详细技术参数请联系我司索取。
l国泓仪器/芯片推力试验机
