镀层测厚仪-仪表网

公司介绍主营产品

东莞市祥兴仪器有限公司是一家专业三坐标测量仪，工具显微镜，工业测量投影仪，二次元影像测量仪，高度测量仪，硬度计，光泽度计，色差仪，粗糙度仪，食品安全检测仪器等专业量测、检验实验室设备的供应商。公司一直立足于三坐标测量机，二次元测量仪，光学投影仪，显微镜的销售与维修服务，并*供应相关仪器配件服务及三坐标、二次元等精密测量仪器的升级改造服务；祥兴已在整个珠三角地区积累了广大的客户人脉资源；

目前祥兴仪器公司主要产品有：投影仪，工具显微镜，二次元影像测量仪，三坐标测量机，高度仪，盐雾试验箱，光泽度仪，色差仪，硬度计，铅笔划痕测试仪，线材测试仪，耐磨擦试验机，恒温恒湿机，2.5次元测量仪，手机按键试验机，ROHS有害物质分析仪，X荧光分析仪，农药残留检测仪，插头线吊重摆动试验，盐水喷雾试验机，耐折强度试验机，微电脑拉力试验机，纸管抗压试验机，老化试验机，弹簧扭力试验机，耐揉试验机，脆化试验机，突拉试验机，胶合强度试验机等；寻遍百家不如找祥兴一家，东莞祥兴仪器有限公司竭诚为您提供*质的产品服务。

祥兴仪器坚持以诚信经营为原则;品质*，服务*为宗旨与新老客户建立*的合作伙伴关系，客户所需，即我所为给客户提供Z完善*公信力的服务。

祥兴仪器一直以水平的品质与*同业同步竞争，产品创新的能力与速度，保持了在行业中的*优势，祥兴仪器将以产品的不断创新，品质*，服务*的口号，本着为客户提供优质产品服务的原则，努力与客户建立起相互信任，达到*合作共赢的目标。

为用户提供完善的计量检测方案及优质的测量设备服务

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产品简介在线询价

CMI900镀层测厚仪特点：精度高、稳定性好强大的数据统计、处理功能测量范围宽NIST认证的标准片服务及支持技术参数主要规格规格描述X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶

镀层测厚仪产品详情

CMI900镀层测厚仪特点：

精度高、稳定性好
强大的数据统计、处理功能
测量范围宽
NIST认证的标准片
服务及支持

技术参数

主要规格	规格描述
X射线激发系统	垂直上照式X射线光学系统
	空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
	标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
	功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
	装备有安全防射线光闸
	二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统	最多可同时装配6种规格的准直器
	多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
测量斑点尺寸	在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
	在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
样品室	CMI900		CMI950
－样品室结构	开槽式样品室		开闭式样品室
－样品台尺寸	610mm x 610mm		300mm x 300mm
－XY轴程控移动范围	标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选		300mm x 300mm
－Z轴程控移动高度	43.18mm		XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm
－XYZ三轴控制方式	多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
－样品观察系统		高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
		激光自动对焦功能
		可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置		IBM计算机惠普或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件		操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包
－测厚范围		可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
－基本分析功能		采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
		样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
		可检测元素范围：Ti22 – U92
		可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
		贵金属检测，如Au karat评价
		材料和合金元素分析，
		材料鉴别和分类检测
		液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
		多达4个样品的光谱同时显示和比较
		元素光谱定性分析
－调整和校正功能		系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移
－测量自动化功能		鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”
		多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
		测量位置预览功能
		激光对焦和自动对焦功能
－样品台程控功能		设定测量点
		连续多点测量
		测量位置预览(图表显示)

－统计计算功能	平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图
	数据分组、X-bar/R图表、直方图
	数据库存储功能
	任选软件：统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
－系统安全监测功能	Z轴保护传感器
	样品室门开闭传感器
	操作系统多级密码操作系统：操作员、分析员、工程师

关键词：测厚仪标准打印机传感器

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