- 商品简介
一、概述：
本实验研究高斯光束的特性参数，以及高斯光束通过薄透镜的传输和变换性质，重点对光束质量的评价和测量进行了阐述。建立了一套以CCD为光斑探测器，结合计算机和测量软件的光斑测量系统。测量了He-Ne激光器的光束光强分布，计算出高斯光束参数，并用双曲线拟合法测量出质量因子。整套系统光路结构简单，使用面阵CCD作为探测系统，激光束经衰减后直接照射在CCD上，这样CCD采集到的图像大小和形状与入射的激光光束截面大小和形状相同（用像素的大小表示）。并对图像进行必要的处理，主要是进行图像平滑处理和进行图像灰度校准。随后选取经过校准的数字图像信号进行分析和计算，求出激光束的相关参数。本实验涉及光、机、电等方面知识，很适合于光学专业实验教学，也可用于普通要求下的光斑测量。二、实验内容：
1、高斯光束参数测量实验，光斑直径，发散角，束腰半径，能量分布图形。
2、高斯光束的变换和参数测量。
三、配置和参数
1、光源：He-Ne激光器，波长632.8nm，输出功率>1.5mW
2、光具座：硬铝型材导轨，长1.2m
3、光电探测器：进口工业黑白CCD摄像机，1/3" CCD，分辨率1024×768，像素尺寸4.65μm
4、透镜：f=45，f=50，f=75，f=100各1片
5、衰减片系统3套。
四、产品特点
1、本实验属于激光原理系列实验，契合光电信息实验室建设需要
2、实验系统做了精简设计，操作更加方便。
3、采用德国进口工业CCD摄像机，灵敏度更高，动态范围更宽。
4、带软件开发包，方便客户基于CCD相机进一步开发新的实验。
