半导体产业供配电异常解决方案
方案介绍
半导体产业供配电异常解决方案，CET聚焦半导体产业客户需求，提供ieter+CET DigSys供配电异常信息捕提及故障诊断分析解决方案，实时监测工艺设备电能质量并输出电能质量评估报告。通过分布式故障录波、扰动源定位、SEM F47容忍度分析、故障诊断分析等功能。捕捉潜在的异常扰动，预防故障发生;对于已发生的事故，能够快速定位事故并生成诊断分析报告，协助用户快速完成事故处理并恢复供电，大幅度提升运维效率，保证供电可靠、稳定，保证生产连续运行，提高效率与良品率，最终实现提质增效。
方案价值
敏锐捕捉、全面预警
1024点/周波高精度采样，20us异常信息敏锐捕捉，精确呈现供配电异常统动波形，并生成一对一诊断分析报告，深挖设备故障本质，实现智能故障趋势预判，提前洞悉用电健康状态，帮助用户预知风险，预警事故发生。
扰动源定位
基于多种模型融合定位算法，准确判断引发电压暂降的扰动发生在监测点上游还是下游，确定电压智降源的位置，还可以实现系统级扰动源精确定位，对快速处理故障问题、合理的解决扰动事件引发的争议具有重要的指导价值。
综合分析
通过将PQ事件统计、容忍度分析、设备运行趋势分析、概率统计分析、故障波形分析、故障扰动定位在一个界面呈现,通过事件为纽带，可以交叉索引各功能的分析结果，为用户呈现多维度的电能质量综合分析结果。自带WaveAnalyzer波形分析工具，可通过PQ Vision界面事件或波形窗口跳转到波形分析界面，提供波形图分析、谐波分析、向量分析、序分量分析、RMS分析、波形运算等功能，可方便的查看和分析波形文件中模拟量通道波形、功率波形和数字量通道变位情况。
