广泛应用于大学物理、材料、电子信息等近代物理和应用物理的创新实验。
应用于所有半导体材料：包括 Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）。
产品特点
● 可对非标准样品测试，装夹方便，同时满足教学和科研需求；
● 测试参数与科研设备一致，功能齐全，性价比；
● 采用高精密度恒流源和电压表，测试准确度良好和稳定性高；
● 创新实验设备，可作为大学物理基础实验的对比与补充；
● 自带软件，针对国人使用优化，测试过程更加方便；
产品应用领域：
● 载流子类型鉴定：确定电流携带者是正电荷的空穴还是负电荷的电子，获得半导体或导体的电子结构和能带特性；
● 载流子浓度测量：霍尔系数与载流子浓度之间存在关系，因此通过测量霍尔系数，可以估计材料中载流子的浓度；
● 迁移率评估：霍尔系数可以用来计算载流子的迁移率，对材料的电导率和电子迁移性等方面的深入研究；
部分客户：
| 科研所 | 深圳技术研究院 |
| 高校 | 浙江大学 |
| 高校 | 成都理工大学 |
| 高校 | 电子科技大学 |
| 科研所 | 中国 |
| 高校 | 中山大学 |
| 高校 | 大连理工大学 |
| 高校 | 河北大学 |
| 高校 | 西南大学 |
| 企业 | 杭州大和热磁电子有限公司 |
| 高校 | 西华大学 |
| 高校 | 暨南大学 |
| 高校 | 武汉工程大学 |
