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荧光分布成像系统 EEM View

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具体成交价以合同协议为准
  • 型号
  • 品牌
  • 所在地上海
  • 更新时间2025-10-29
  • 厂商性质生产厂家
  • 入驻年限1
  • 实名认证已认证
  • 产品数量214
  • 人气值7693
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 日立科学仪器是日立集团旗下日立高新技术有限公司在北京设立的全资子公司。主要产品包括:扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镜(TEM)、聚焦离子束(FIB)、原子力显微镜(AFM)等表面科学仪器和前处理设备,以及各类液相色谱(LC)、荧光分光光度计(FL)、紫外分光光度计(UV)、原子吸收分光光度计(AAS)、电化学等分析仪器。为了更好地服务于中国广大的日立客户,公司目前在北京、上海、广州等十几个主要城市设立有分公司、办事处或联络处等分支机构,直接为客户提供快速便捷的、专业优质的各类相关技术咨询、应用支持和售后技术服务。
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荧光分布成像系统采用全新设计,可以测定并观察样品的光谱数据。利用AI光谱图像处理算法*1,不但可以分别显示样品的荧光图像和反射图像,还可以获得不同区域的光谱图像*1(荧光光谱、反射光谱)。*1计算系统是国立信息学研究所的IMARI SATO教授和郑银强副教授共同研究的成果。*EEM是日立科学公司在中国和日本的注册商标
荧光分布成像系统 EEM View 产品详情

荧光分布成像系统 EEM® View

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荧光分布成像系统采用全新设计,可以测定并观察样品的光谱数据。利用AI光谱图像处理算法*1,不但可以分别显示样品的荧光图像和反射图像,还可以获得不同区域的光谱图像*1(荧光光谱、反射光谱)。

*1
计算系统是国立信息学研究所的IMARI SATO教授和郑银强副教授共同研究的成果。
*
“EEM”是日立科学公司在中国和日本的注册商标

  • 特点

  • 应用数据

  • 指标

特点

什么是EEM View

新技术可同时获得荧光 · 反射图像和光谱

  • 测定样品的光谱数据(反射光谱、荧光光谱)
  • 在不同光源条件(白光和单色光)下拍摄样品
     (区域:Φ20 mm、波长范围:380~700 nm)
  • 采用AI光谱图像处理算法*1,能够分别显示样品荧光图像和反射图像
  • 根据图像可获得不同区域的光谱信息*1(荧光光谱、反射光谱)
*1
计算系统是国立信息学研究所的IMARI SATO教授和郑银强副教授共同研究的成果

EEM View Analysis 界面(样品:LED电路板)

荧光分布成像系统概要

均匀的光源系统

同时获取样品的荧光 · 反射图像和光谱!

  • 积分球漫反射使光源均匀化
  • 利用积分球收集的光均匀照射样品
  • 采用荧光检测器和CMOS相机双检测模式

新型荧光分布成像系统可安装到F-7100荧光分光光度计的样品仓内。入射光经过积分球的漫反射后均匀照射到样品,利用F-7100标配的荧光检测器可以获得样品荧光光谱,结合积分球下方的CMOS相机可获得样品图像,并利用独特的AI光谱图像处理算法,可以同时得到反射和荧光图像。

样品安装简单,适用于各种样品测试!

样品只需摆放到积分球上,安装十分简单!

  • 板状样品:通过石英窗安装样品。
  • 粉末样品:将粉末填充至样品平整夹具中,置于粉末样品池支架,或使用选配件固体样品支架中的粉末样品池安装样品。

  • 校正时,需放置好荧光标准样品。
  • 请使用选配的标准白板(100 %)和空白样品(0 %)进行校正。此校正工具可被应用于荧光强度、反射率校正, 以及图像不同区域的亮度分布校正。

 

应用数据

【应用实例】微结构材料的荧光特性和结构确认

为了提高可视性,我们测量了具有精细结构的荧光反射片。

同时获得光谱数据和样品图像

对样品照射360 nm~700 nm范围内的单色光以及白光。此时,可获得不同光源条件下的图像,同时通过荧光检测器可获得荧光光谱。测定完成后,可以查看样品的三维荧光光谱(激发波长、发射波长、荧光强度)。在专用分析软件中,可对图像进行放大,从而显示不同区域的荧光 · 反射光谱。因此能够确认光学性能分布不均匀的样品的反射和荧光光谱。

计算、显示不同区域的光谱(荧光 · 反射)

显示分离图像(荧光 · 反射)

对拍摄到的图像进行反射光成分图像与荧光成分图像分离

利用AI光谱图像处理算法,将拍摄的图像分离为反射光成分和荧光成分图像。结果,反射光成分图像显示为橙色,荧光成分图像显示为绿色。二者分别与反射光谱与荧光光谱的单色光一致。由此可知,此样品是橙色反射光和绿色荧光的混合,所以在白光下呈黄色。此外,通过反射图像和荧光图像可看出样品不同区域的光学特性(图像图案)差异。放大图像后可以看到,反射板的微细结构存在规律的间隔,其间隔宽度是200 μm。

指标

主要功能

主要功能
项目内容
EEM View模式
(测定模式)
三维荧光光谱的测定
单色光图像
白色光图像
预览图像
数据处理 显示缩略图
显示三维荧光光谱(等高线,渐变图)
显示激发/发射光谱
显示放大图像
图像分区(1×1、2×2、3×3、4×4、5×5)
计算、显示不同区域光谱(荧光、反射)*1
显示分离图像(荧光、反射)*1
*1
计算系统是国立信息学研究所的IMARI SATO教授和郑银强副教授共同研究的成果

规格

规格
项目内容
照射波长

360 nm ~700 nm

相机 彩色(RGB)CMOS传感器
接口

USB3.0

有效像素数 1920 × 1200(H×V)
可拍摄波长范围

380 nm ~700 nm

*
此配件的主要规格以荧光分光光度计主机为设计依据。

配置示例

配置示例
名称P/N(序列号)
F-7100荧光分光光度计

5J1-0042

EEM View配件

5J0-0570

R928F光电倍增管

650-1246

副标准光源

5J0-0136

应用

介绍分光荧光光度计(FL)的测量实例。

荧光分光光度计之光谱精确测定

介绍有关补正装置间机差的方法和去除散乱光的方法。

固体样品荧光光谱

介绍使用固体样本保持器(可选)等离子体显示器的荧光光谱测量实例。

科学环

介绍以科技领域者为目标的日立科学集团的象征标志。

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