CT-COMPACT nano，超高分辨率可到达亚微米级，的功能性可以提供原位/4D 解决方案。与传统的层析成像相比，CT-COMPACT nano纳米分辨率不受样本大小的限制，实现0.4μm的超高分辨率，适用于材料科学、半导体、石油、天然气、生命科学等领域。
CT-COMPACT nano是以复杂并且容易改变的目标来运作。无匹配的系统架构与典型的ProCon X-Ray设计相结合，为您提供了一个方便、高效的系统。通过亚微米分辨率和优异的对比度实现高品质的扫描结果。
特征
·操作简便
·非接触式计量
·兴趣量 - 扫描
·质量控制独立于材料
·缺陷识别（空洞，裂缝......）
·不同的重建算法过滤反投影，代数，统计
·多个扫描轨迹Circular，Helix，Planar等等
·许多扫描轨迹的视野扩展
·体积缩放（Hounsfield）
·环形伪像抑制和降噪算法
·光束硬化校正和金属伪影减少
·用于漂移补偿的抖动校正
·相位和暗场对比度选项
·用于编写脚本的Matlab / Python / Labview界面
·批处理和扫描计划
·时间分辨CT扫描（4D CT）
·原位选项
·实时CT重建
·使用Flat- panel探测器快速扫描<10秒
·“Industriepreis 2018” - 获奖者
