ICT33C+ ICT33C+ 集成电路测试仪|美达

ICT33C+ 集成电路测试仪

ICT33C+ 集成电路测试仪产品特点： 

 1．工作原理：
    ICT33C+集成电路测试仪是以器件预期响应法为指导思想，以单片机智能化为结构的多功能测试仪器。它以MCS51单片机为核心，配合大规模软件和外围扩展系统来全面模拟被测器件的综合功能。仪器的设计基础立足于这样的原则：在数字集成电路众多参数中，逻辑功能是zui重要，zui根本，zui能说明问题的参数。

2．系统主要构成：
（1） CPU：MCS51系列产品89C52；主频：11.059M。
（2） 程序存储器：128K  EPROM。
（3） RAM缓冲区：128K静态RAM。
（4） 显示器：8位液晶显示器。
（5） 操作键盘：20位轻触式按键键盘。
（6） 输出：七只LED+八位液晶显示+声音提示。
（7） 机箱：全塑结构机箱。
 

ICT33C+ 集成电路测试仪技术规格：

（1）       电源电压：AC220V±15%，50HZ。
（2）       整机功耗：15VA。
（3）       测试电压：3.3V，5.0V，9.0，15V。
（4）       编程电压：12.5V，21V。
（5）       zui大测试脚数：DIP封装40脚；SOP封装20脚（须另购适配器）。
（6）       型号输入位数：3——6位。
（7）       适用温度：0——40℃。
（8）       测试规范：输入短路测试；输出短路测试；功能测试。
（9）       输出高电平
VOH：大于2.8V
（VT=5.0V）。
（10）   
输出低电平VOL：小于0.7V
（VT=5.0V）。
（11）   
输入高电平VIH：大于4.5V
（VT=5.0V）。
（12）   
输入低电平VIL：小于0.2V
（VT=5.0V）。
ICT33C+具有以下主要用途：
（1）       维修各类电子产品，判断其集成电路故障。
（2）       破译被抹去型号集成电路的真实型号。
（3）       烧写各类EPROM、EEPROM、FLASH ROM、单片机片内ROM。
（4）       开发各类智能电子产品，调试程序。
（5）       检验新购器件的质量。