1、採用Vortex高分辨率之硅半導體多陰極檢測器,為一般SEM/EDX專用之高階檢測器,不需要使用液態氮冷卻。
2、高計數率設計的Vortex檢測器,計數率可達150,000cps,是一般檢測器的15~20倍,能接受更多的X熒光訊號,針對合金或塑料高分子中主成分及微量元素分析的應用極佳。
X-rayStation 筆記型計算機或桌上型計算機
打印機(選購) 噴墨打印機
定性分析功能:能譜測定,自動辨別,圖譜比對
定量分析功能:KLM標示表示,差異表示,塊體FP法,標準曲線法
統計處理功能:MS-EXCEL
報告制作:MS-WORD
設置尺寸:1080(W)*750(D)*810(H)mm(不含打印機)
重量:90kg
使用電源:AC100~120V,200~240V±10%,10A
選購:有害物質判定軟件
能譜匹配軟件(材料判定)
薄膜標準曲線軟件
樣品進樣器
準直器:3mmΦ
真空泵(輕元素分析用)
標準品(金屬電鍍薄膜厚度標樣,RoHS標樣)
:刘
-13
:landylau888
贸易通:jinhui8403
邮政编码:518102
深圳市宝安大道盐田商务广场A座421室