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仪表网>产品库>实验仪器>试验箱>冷热冲击试验箱>半导体器件试验冷热冲击试验箱
  • 半导体器件试验冷热冲击试验箱

半导体器件试验冷热冲击试验箱

参考价订货量

100

≥1台

具体成交价以合同协议为准
  • 型号
  • 品牌普桑达/Poosanda
  • 所在地北京市
  • 更新时间2024-03-13
  • 厂商性质生产厂家
  • 入驻年限15
  • 实名认证已认证
  • 产品数量2731
  • 人气值572575
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北京普桑达仪器科技有限公司集研发、生产、销售于一体,公司坐落在北京市亦庄经济技术开发区和江西省南昌市小蓝经济技术开发区。本着“以质量求发展 ;以服务带动销售”的经营理念,面向广大客户提供完善的售前、售中、售后服务,选型时免费提供科学的解决方案,使用时提供免费的技术培训,基于北京公司总部,南昌生产基地,天津分公司,确保每一台设备都拥有优良品质及终身的维护!

公司现已开发的产品有高低温试验箱,恒温恒湿试验箱,高低温交变湿热试验箱,冷热冲击试验箱,快速温度试验箱,盐雾试验箱,步入式恒温恒湿试验室,步入式高低温试验室,高温老化房,换气式老化试验箱,臭氧老化试验箱,氙灯老化试验箱,药品稳定性试验箱,多功能智能熏蒸一体机等可靠性试验设备,应用于电子电工,汽车,通讯,橡胶塑料,五金,包装,电线电缆,制药生物,金属加工,粉末冶金,科研院校,质检单位等行业。

公司严格按照ISO9001标准建立质量管理体系,在产品的研发,设计,制造,质量控制及服务协调方面始终保持高效运作。产品的设计符合ISO、ASTM、AATCC、  TAPPI 、 UL 、 VDE  、IEC、  ANSI 、 CSA 、 JIS、  BS  、EN  、DIN、  GB、  CNS等测试标准。 产品从研发到生产,再到出货,包括对供应商的筛选评估等,每个环节都严格控制。

普桑达人以用户满意为宗旨,以产质量优耐用为目的,积累多年丰富生产制造经验,广泛吸收用户意见,多次技术改进生产优良产品,选用之部件可靠性高,质量优良,能保证各式产品性能的可靠度、稳定度和精确度。

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产地国产 加工定制 适用领域化工
半导体器件试验冷热冲击试验箱是一种具有温度控制功能的设备,通过快速改变温度来模拟芯片在不同环境下的工作状态。它可以迅速将芯片从较低温度迅速加热到较高温度,或者相反。这种温度的迅速变化可以导致材料的膨胀和收缩,从而引发物理和化学性质的改变。
半导体器件试验冷热冲击试验箱 产品详情

半导体器件试验冷热冲击试验箱是一种具有温度控制功能的设备,通过快速改变温度来模拟芯片在不同环境下的工作状态。它可以迅速将芯片从较低温度迅速加热到较高温度,或者相反。这种温度的迅速变化可以导致材料的膨胀和收缩,从而引发物理和化学性质的改变。通过在冷热冲击箱中进行长时间的测试,科学家们可以模拟芯片在不良条件下的工作情况,以便评估其性能和可靠性。

在冷热冲击箱中进行的测试通常包括冷冻、加热和恒温三个阶段。首先,芯片会被暴露在较低温度的环境中,来模拟在寒冷的气候下工作时的情况。然后,温度会迅速上升到较高的水平,来测试芯片在高温环境下的稳定性和性能。至后,在恒温条件下进行长时间测试,来模拟芯片在常温环境下的工作情况。通过这一系列的测试,科学家们可以综合评估芯片在不同温度下的性能和可靠性,为电子设备的开发和制造提供重要的参考依据。


温度程控器:液晶显示触控式莹幕直接按键型控制器,中、英文表示.7.5"之广视角,高对比附可调背光功能之大型LCD液晶显示控制器。

   a.控制器规格:精度:±0.1℃+1digit.分辨率:±0.1.

   具有上下限待机及警报功能.

   温度入力信号:T型感温线.P.I.D控制参数设定,P.I.D自动演算.

   b.画面显示功能:采用图控软件画面对谈式,无须按键输入,屏幕直接触摸选项:

   包括程序设定、曲线显示、历史数据、手动运转、自动运转、辅助设定等.

   可显示目前执行状态、温度设定值、时间设定值、剩余时间、剩余循环次数

   具单独程序编辑画面,可输入温度,时间及循环次数.

   温度程序具实时显示程序曲线执行功能

   显示故障状态及说明故障排除方法

   屏幕可作背光调整,屏幕显示保护功能可作定时,关闭设定.

   中、英文可相互切换.

   c.程序容量及控制功能:

   可使用的程序组:96个PATTEN(即96个试验规范可独力设定并储存)。

   可重复执行命令:可达999次。LSEGMENTS时间设定0~99Hour59Min。

   程序之制作采对谈式设定功能。

   9组程序相互连接功能.

   具有断电程序记忆,复电后自动启动并接续执行程序功能。

   高低温冲击时自动补偿温度功能.

   程序执行时可实时显示图形曲线。

   除霜时间、次数及除霜温度设定及执行功能.

   具有预约启动及关机功能.

   具有日期,时间调整功能.


主要配置:

  1、内箱材质采用SUS304不锈钢板,外箱材质采用SEEC钢板外加静电喷涂或不锈钢拉丝板,增加外观质感及洁净度,造型美观大方。

  2、箱体保温层采用高强度PU及保温棉,达到优良的保温效果。

  3、试验箱配置50mm,测试孔,配发泡硅胶塞密封,可外接测试电源线或信号线使用。

  4、机器底部采用高品质可固定式PU活动轮,附水平脚。

  5、7英寸温湿度控制器,具有操作简单,易学,控制精度高,PID模式,可10%以上。

  6、可以独立设定高温、低温、冷热冲击三种不同条件,具备高低温试验机的功能。

  7、可设定循环次数及除霜次数自动(手动)除霜.出风口于回风口感知器检测控制,风门机构切换时间为10秒内完成。

  8、具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,*有P.L.C锁定处理,全部采用P.I.D自动演算控制。

  9、温度恢复时间为5分钟内完成。

  10、运转中发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障原因,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。

  11、可选配USB接口存储方便,到有标准的RS-232或RS-485计算机通讯接口。实现远程控制。


半导体器件试验冷热冲击试验箱规格技术参数:


   型号:BY-260D

   ①规格(容量):63升

   测试区尺寸:400*350*350(W*D*Hmm)

   外形尺寸(约):1500*1450*1900(W*D*Hmm)

   ②规格(容量):80升

   测试区尺寸:500*400*400(W*D*Hmm)

   外形尺寸(约):1600*1500*2000(W*D*Hmm)

   ③规格(容量):150升

   测试区尺寸:600*500*500(W*D*Hmm)

   外形尺寸(约):1700*1600*2000(W*D*Hmm)

   ④规格(容量):225升

   测试区尺寸:500*600*750(W*D*Hmm)

   外形尺寸(约):1800*1800*2000(W*D*Hmm)

   ⑤规格(容量):500升

   测试区尺寸:800*800*800(W*D*Hmm)

   外形尺寸(约):2600*1900*2000(W*D*Hmm)

   ⑥规格(容量):1000升

   测试区尺寸:1000*1000*1000(W*D*Hmm)

   外形尺寸(约):2800*2000*2200(W*D*Hmm)

   高温储热范围:+60℃--+200℃

   低温储冷范围:-10℃~-55℃(A型),-10℃~-65℃(B型),-10℃~-75℃(C型)

   试验范围:

   高温:+60℃~+150℃

   低温:-10℃~-40℃(A型);-10℃~-55℃(B型);-10~-60℃(C型)

   升温时间:+60℃~+200℃约需25min

   降温时间:+20℃~-55℃小于60min;+20℃~-65℃小于75min;+20℃~-75℃小于90min;

   风门切换时间:小于或等于10S

   温度恢复时间:5min

   温度波动:±0.5℃

   温度偏差:±2℃

   免费送货上门,并安装调试操作介绍,同时进行机器操作技术培训。(直到需方员工独立操作并满意为止)。

   本产品符合GB/T2423.1.2GB10592-89GJB150等国家标准。


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