UM-1超声波测厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-1超声波测厚仪具有zui小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或zui小厚度值;数据存储;报警功能。 UM-1超声波测厚仪的技术参数:
UM-1超声波测厚仪的附件: 橡胶外套;众多可供选择的探头;校准用阶梯试块;耦合剂及高温耦合剂 |
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