BDD-I半导电层电阻试验装置
BDD-I半导电层电阻试验装置详细介绍如下:
BDD-I半导电层电阻试验装置适用范围：
BDD型半导电层电阻测试成套装置适用于GB/T11017.1-2002，附录B、GB/T12706.2-2002和GB/T3048.3-2007《电线电缆电性能试验方法第三部分 半导电橡塑材料体积电阻率试验方法》标准。能对3.5万伏、11万伏、22万伏等各种高压交联电缆的导体半导电屏蔽层和绝缘半导电屏蔽层的电阻进行测量，从而得出半导电屏蔽层电阻率。增加相应附件，能完成GB3048.3《电线电缆电性能试验方法·第3部分·半导电橡塑材料体积电阻率试验》标准中半导电材料的电阻率的测试。
BDD-I半导电层电阻试验装置的组成和主要参数：
为能准确的完成GB110717—2002附录A和GB/T3048—2007标准中提出的试验步骤。本成套装置由三台设施组成。
2.1 BDD型半导电层试样制备机：为取得半圆型交联电缆试样而设计，根据试样外径大小分为二个型号
| 试样线芯直径mm | 试样外径范围mm | |
| BDD—I型电缆试样制备机 | Ф6—Ф30 | Ф15—Ф55 |
| BDD—II型电缆试样制备机 | Ф8—Ф40 | Ф18—Ф130 |
2.2 BDD型半导电层电阻测试仪，为测试导体屏蔽层和绝缘屏蔽层电阻而设计：
·测试功率： 不超过100MW
·电源对地绝缘电阻： 不小于1012Ω
·电压表输入端对地绝缘电阻： 不小于1012Ω
·zui大测量电阻： 2×1MΩ
2.3 BDD型半导电层测试恒温烘箱，为试样在90℃恒温条件下测试电阻而设计：
·有效容积： 450×450×450mm
·一次zui多试样个数： 4个
·恒温温度： 90±1℃
2.4 用户如果须完成GB3048.3即半导电橡塑材料体积电阻率试验，须另行订购半导电橡塑材料体积电阻率试验仪，结合BDD型半导电层电阻测试仪，即可完成该项目的试验。
BDD-I半导电层电阻试验装置
BDD-I半导电层电阻试验装置
详细介绍如下:
适用范围：
BDD型半导电层电阻测试成套装置适用于GB/T11017.1-2002，附录B、GB/T12706.2-2002和GB/T3048.3-2007《电线电缆电性能试验方法第三部分 半导电橡塑材料体积电阻率试验方法》标准。能对3.5万伏、11万伏、22万伏等各种高压交联电缆的导体半导电屏蔽层和绝缘半导电屏蔽层的电阻进行测量，从而得出半导电屏蔽层电阻率。增加相应附件，能完成GB3048.3《电线电缆电性能试验方法·第3部分·半导电橡塑材料体积电阻率试验》标准中半导电材料的电阻率的测试。
的组成和主要参数：
为能准确的完成GB110717—2002附录A和GB/T3048—2007标准中提出的试验步骤。本成套装置由三台设施组成。
2.1 BDD型半导电层试样制备机：为取得半圆型交联电缆试样而设计，根据试样外径大小分为二个型号
| 试样线芯直径mm | 试样外径范围mm | |
| BDD—I型电缆试样制备机 | Ф6—Ф30 | Ф15—Ф55 |
| BDD—II型电缆试样制备机 | Ф8—Ф40 | Ф18—Ф130 |
2.2 BDD型半导电层电阻测试仪，为测试导体屏蔽层和绝缘屏蔽层电阻而设计：
·测试功率： 不超过100MW
·电源对地绝缘电阻： 不小于1012Ω
·电压表输入端对地绝缘电阻： 不小于1012Ω
·zui大测量电阻： 2×1MΩ
2.3 BDD型半导电层测试恒温烘箱，为试样在90℃恒温条件下测试电阻而设计：
·有效容积： 450×450×450mm
·一次zui多试样个数： 4个
·恒温温度： 90±1℃
2.4 用户如果须完成GB3048.3即半导电橡塑材料体积电阻率试验，须另行订购半导电橡塑材料体积电阻率试验仪，结合BDD型半导电层电阻测试仪，即可完成该项目的试验。
