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冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱

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  • 型号
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  • 所在地北京市
  • 更新时间2021-03-31
  • 厂商性质生产厂家
  • 所在地区苏州市
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  • 人气值75110
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存在于地球表面及大气层空间中的一些自然环境因素和诱发环境因素,影响著工程产品(设备)的使用状态及寿命。利用环境试验设备模拟各种气候条件,在实验室对各种产品的耐气候性进行研究已成为一种广泛使用且行之有效的手段。 

    公元一九八五年十月宏展()正式成立,公司自创立以来,专职于环境测试设备的生产与研发,多年来我们在环境测试设备领域里,不遗余力。以‘环境模拟’为自己的经营课题,以「追求*」、「开创新局」为使命。积累了更多的专业经验与技术,在制程方面不断的开发更*的环境测试设备产品,以自主性技术及优良的制程站稳市场。 在「质」与「值」的坚持,我们从不妥协!

    宏展仪器(HONGZHAN)为自己能够为世界范围内的用户设计、制造*的模拟环境试验设备而自豪。产品包括:紫外光耐气候试验箱高低温试验箱高低温交变湿热试验箱冷热冲击试验箱、快速温度变化(ESS)环境应力筛选试验箱步入式恒温恒湿试验室、温度湿度振动三综合试验箱、高低温低气压试验箱、氙灯耐气候试验箱、盐雾试验箱、高温老化箱、沙尘试验箱、淋雨试验箱、臭氧老化试验箱、全天候(温度、湿度、淋雨、日照、风速)试验室、汽车行业测试系统、驶入仓、环境模拟仓等几乎全系列的环境试验系列产品。 

    宏展仪器公司隶属于Hongzhan Group(宏展集团)。宏展集团总部设置于中国香港,旗下包括:hongzhan;horngjaan;Q8;jeiotech;chunyen品牌及6家子公司。宏展集团是一家业务涉及领域非常广阔的大型跨国企业,为用户提供产品和材料技术方面广泛、多元化的技术服务,其涉及领域包括炭材料加工和制陶技术、环境工程和空调、金属烧结技术、超声波和珐琅工程等等。公司是Siu cham ming 先生于一九八五年创立。

    公司获得了ISO9001:2008版质量体系认证。通过不断改进的、渐入佳境的人性化管理以及有效的售后服务体系,逐步形成了一套*的企业高速成长的经营模式。做为业内企业,从新产品的研发,到新技术的有效利用以及对制造工艺的*性近乎苛刻的追求确保了宏展仪器公司今后在业内能够继续处于*地位,宏展仪器公司为此而骄傲。  

    宏展仪器公司(HONGZHAN)生产的模拟环境试验设备可满足中国国标、中国、美国标准,ASTM技术规范以及客户各种特殊需求。宏展仪器公司模拟环境试验系统的配电系统符合UL508A(2001年4月25日*版)中的NFPA79安全标准、需求。宏展仪器公司销售到欧洲市场,需提供符合欧洲标准的C.E.-“合格声明”证书。如无特别要求,宏展仪器公司将依据SEMI S2-0200和SEMI S8-1000标准设计、制造设备。 

    宏展仪器公司(HONGZHAN)多年来一直以技术超群、经验丰富的设计和生产队伍而自豪。公司遵从以人为本的治理方针,致力不断创造辉煌。我们向我们的用户郑重承诺:为用户生产*的模拟环境试验箱,严格依据合同按期交货,并在设备交付用户之后提供*、周到的售后服务。凭借公司的实力和增长势头,现已经建立了一套*的治理体系以保证为用户提供高品质的设备和完善的售后服务。 

    宏展仪器公司(HONGZHAN)在广东东莞工厂设有技术服务中心,在北京,上海,昆山,深圳等全国个大城市拥有售后服务站,这些服务中心和站点可以为用户提供及时的技术支持和维修、维护保养、更换零配件、设备搬迁等各种服务,服务对象包括所有品牌的环境试验设备。 

    宏展仪器公司(HONGZHAN)同时也为其26年来在行业内逐步确立的技术而自豪,从新产品的研发,到新技术的有效利用以及对制造工艺的*性近乎苛刻的追求确保了宏展仪器公司今后在业内能够继续处于*地位。宏展仪器公司将不断创新,使我们的产品质量和使用寿命不断提高,永远创造辉煌。 

    宏展仪器公司(HONGZHAN)经过多年的努力,客户遍及汽车行业、电子、半导体、光电、化工、可靠性试验室、大专院校……,产品获得了赛宝实验室、中国计量测试中心、中国*、*、北京博物馆、清华大学、浙江大学、湖南大学、中南大学、四川大学、华南理工、上海交大、西安交大、吉林大学、哈尔滨工业大学、南京大学、河海大学、富士康科技、一汽大众、光联通讯、阿尔卡特、金立通讯、广博集团、施耐德、苏泊尔、华为技术、艾默生、格力电器、雅图仕、嘉宝莉……等客户的好评。 

    地球*停止的运转,即在提供万物生存之环境,宏展兢兢业业的经营,目的在为企业创造永续经营的空间,更深信*企业永续经营之道在于以顾客*的服务态度,满足顾客需求,并重视人才、技术与教育之培育,同心协力积极进取谋求顾客、代理商及全体员工之共存共荣。

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冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱简单介绍
TS系列冷热冲击试验箱设备规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱 产品详情

冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱  的详细介绍

TS系列冷热冲击试验箱,温度冲击试验箱,高低温冲击试验箱

*设备特点
规格系列齐全 –提篮式、三厢式、水平移动三种冲击模式可供用户选择,充分满足不同用户的各种要求;
设备还可提供标准高低温试验功能,实现了温度冲击和高低温试验的共同兼容;
高强度、高可靠性的结构设计- 确保了设备的高可靠性;
工作室材料为SUS304不锈钢 - 抗腐蚀、冷热疲劳功能强,使用寿命长;
高密度聚氨酯发泡绝热材料- 确保将热量散失减到小;
表面喷塑处理- 保证设备的持久防腐功能和外观寿命;
高强度耐温硅橡胶密封条 – 确保了设备大门的高密封性;
多种可选功能(测试孔、记录仪、测试电缆等)保证了用户多种功能和测试的需要;
大面积电热防霜观察窗、内藏式照明 –可以提供良好的观察效果;
环保型制冷剂 –确保设备更加符合您的环境保护要求;

*可根据用户要求定制尺寸/定制使用指标/定制各种选配功能

*温度控制
可实现温度定值控制和程序控制;
全程数据记录仪(可选功能)可以实现试验过程的全程记录和追溯;
每台电机均配置过流(过热)保护/加热器设置短路保护,确保了设备运行期间的风量及加热的高可靠性;
USB接口、以太网通讯功能,使得设备的通讯和软件扩展功能满足客户的多种需要;
采用流行的制冷控制模式,可以0%~自动调节压缩机制冷功率,较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%;
制冷及电控关键配件均采用品牌产品,使设备的整体质量得到了提升和保证;

*设备满足以下标准
GB/T 10592 -2008 高低温试验箱技术条件
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验A:低温
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法试验B:高温
GB/T 5170.1-2008 电工电子产品环境试验设备检验方法 总则
GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验
GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验
GJB 150.5A-2009 装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验
GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法107 温度冲击试验

型 号

 

TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W
TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W
TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W
TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
标称内容积(升)80150200300
试验方式气动风门切换2温室或3温室方式
性能高温室预热温度范围+60~+200℃
升温速率※1+60→+200℃≤20分钟
低温室预冷温度范围-78-0℃
降温速率※1+20→-75℃≤80分钟
试验室温度偏差±2℃
温度范围TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;
TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;
TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃
温度恢复时间※25分钟以内
试样搁架承载能力30kg
试样重量7.5kg7.5kg10kg10kg
内部尺寸(mm)W500600750850
H400500500600
D400500600800
外形尺寸(mm)※4W1460156017101880
H1840194019402040
D1500160017001900
※1温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。
※2恢复条件:室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路。(均布)

 

 

TSL-80-A

TSU-80-W

TSS-80-W

TSL-150-A

TSU-150-W

TSS-150-W

TSL-225-W

TSU-225-W

TSS-225-W

TSL-408-W

TSU-408-W

TSS-408-W

标称内容积(升)

80

150

200

300

试验方式

气动风门切换2温室或3温室方式

性能

高温室

预热温度范围

60~+200

升温速率※1

60→+200℃≤20分钟

低温室

预冷温度范围

-78-0

降温速率※1

20→-75℃≤80分钟

试验室

温度偏差

±2

温度范围

TSL:(+60+125→(-40--10);

TSU:+60~+150)-55~-10);

TSS:+60~+150)-65~-10)

温度恢复时间※2

5分钟以内

试样搁架承载能力

30kg

试样重量

7.5kg

7.5kg

10kg

10kg

内部尺寸(mm)

W

500

600

750

850

H

400

500

500

600

D

400

500

600

800

外形尺寸(mm)4

W

1460

1560

1710

1880

H

1840

1940

1940

2040

D

1500

1600

1700

1900

温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能。

2恢复条件:室温为+25℃和循环水温为+25℃,试样是塑料封装集成电路。(均布)


 冷热冲击试验箱规格表(Programmable Thermal Shock Tster)

---- 不符合此规格符合此规格可配增加此功能可配增加LN2功能

试验规范

 驻留温度()
(exposure temp.)

驻留温度时间(Min)
(exposure time)

覆归时间
(recovery time)

 周期
或次数

试验起
始点

适用机台型号
TS-(80/150/225/408)

高温

室温

低温

高温/低温

室温

S

U

L

MIL-STD-883E
(Method 010.7)

+85

+10

----

-55

0

10min
15min

----

含驻留时间&
转换时间≦15min


10

低温或
高温

Temperature Cycling
(
转换时间<1min)

实验过程若中断
超过总实验之1/10
次则实验须重做

----

0

+125

+15

----

0

-10

+150

+15

----

0

+150

+15

-65

0

.

----

0

-10

MIL-STD-202F
(Method 07G)
+83

+3

-25

+10

-55

0

28g以下
1530 Min
28
136g
30Min
136g
1.36Kg
60Min
1.36
13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min

Max.
5 Min

5 Min 以内

5 cycle
25
50
100

低温

Transfer time
不超过5 min

0

-3

+125

+3

-65

0

----

0

-5

-5

+125

+3

-65

0

----

0

-5

JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22

+70

+85

+100

+125

±2

±2

±2

±2

室温

-5

-10

-25

-40

-55

-65

±3
±3
±3
±3
±3
±3

3hr
2hr
1hr
30min

或无定义则
3hr定义

手动转
移时间
23Min

为驻留时间
1/10

5 cycle
除非有
其它规格

低温

Auto 
Transfer time

不超过30 sec
小试件
Transfer time
不超过10 sec

----

IPC 2.6.7+70

±2

----

0

+0

15 Min

----

2 Min 以内

100 cycle

高温
(试验结束
点在高温)

Transfer time
不超过2 min

-0

-5

+85

+5

-40

+0

-0

-5

+105

+5

-55

+0

-0

-5

+105

+5

-65

+0

----

-0

-5

+105

+5

----

-0

IPC 2.6.6+85

+3

-25+10-55

+0

30 Min

10-15 
Min
5 cycle

-0

-5
+125

+3

-5-65+0

----

-0

-5
Bellcore
GR-1221-CORE
+70

±2

----

10min
15min

----

含驻留时间
&转换时间≦15min

500 cycle
OR
1000cycle

+80

±2

JESD22
A104-A
+125

+10

-40

+0

15min

含驻留时间
&转换时间≦15min

10
可接受;
1000

合格

Temperature
Cycling
(
转换时间<1min)
实验过程若中断
超过总实验之1/10
次则实验须重做

-0

-10

+85

+10

-55

+0

-0

+125

+10

-0

-10

+150

+10

-0

+150

+10

-65

+0

----

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