涂镀层厚度测量和/或成分分析，元素范围 Ti - U •可同时进行多达15层元素成分分析 •测量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987 •CMIX射线系列测厚仪原产于美国，现已转移至中国上海生产，是*的品牌产品，多年来CMI系列仪器在PCB及电镀行业凭着高品质的产品及完善的售后服务在业界已形成一个行业的标准，华南地区90％以上的大型企业都在使用CMI900做为检测镀层厚度的工具。CMI900X射线测厚仪是一种功能强大的材料涂／镀层测量仪器，可应用于材料的涂／镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于WindowsXP中文视窗系统的中文版SmartLinkFP应用软件包，实现了对CMI900主机的全面自动化控制。 CMI900X-射线荧光镀层厚度测量仪，在技术上一直以来都于*的测厚行业 A：CMI900能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体，极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定zui多5层、15种元素。 B：精确度于世界，精确到0.025um（相对与标准片） C：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。 D：统计功能提供数据平均值、误差分析、zui大值、zui小值、数据变动范围、相对偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK图、直方图、X-bar／R图等多种数据分析模式。CMI900X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品； E：可测量任一测量点，zui小可达0.025x0.051毫米。 样品台选择：CMI900采用开槽式样品室设计，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为： 一：手动样品台 1、标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 2、扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 3、可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。 二：自动样品台 1、程控样品台：XYZ轴自动控制。 2、超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。于接纳超大尺寸样品。
