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仪表网>产品库>分析检测>通信测试>光通信测试仪>高精度插回损测试仪
  • 高精度插回损测试仪

XST4060 高精度插回损测试仪

参考价
面议
具体成交价以合同协议为准
  • 型号XST4060
  • 品牌
  • 所在地上海市
  • 更新时间2018-05-15
  • 厂商性质生产厂家
  • 入驻年限1
  • 实名认证已认证
  • 产品数量9
  • 人气值227
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上海信时通光电科技有限公司,是一家从事光通信仪器仪表、半导体泵浦激光电源、激光测距仪的研发、生产制造与销售并提供仪器仪表产品的检验、校准、维修,技术咨询与技术培训等服务的高科技企业。

公司目前主要产品有多通道无源器件测试仪(PLC测试仪)、台式光功率计、台式稳定光源、PLC耦合*光源、插回损测试仪、手持式光功率计、手持式光源、PON光功率计、可视激光光源、光纤寻障仪、光时域反射仪、ASE光源、半导体泵浦激光电源、激光测距仪等。热烈欢迎社会各界与我公司进行各种形式的研发技术合作与项目合作!

公司技术科研力量异常雄厚,目前已与上海交通大学、电子科技大学等国内外高校与科研机构达成广泛深入的合作,公司几位主要创始人均潜心研究光电、通信行业多年,工作经验丰富,这些都为公司的持续高速增长提供了永恒不竭的核心竞争力。

面对未来,公司将一如既往秉承“为客户创造价值,合作共赢”的经营理念,与客户携手共进,共同谱写光通信产业的未来篇章。
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XST4060插回损测试仪是上海信时通开发研制出的带微处理器的精密光检测仪表,具有*的性能价格比。是用于光有源器件和光无源器件的回波损耗测试及设备装配检查、生产质量检测的的测量工具。XST4060插回损测试仪可以进行宽动态范围及高精度的光回波损耗测量。由于采用了大动态范围和微弱信号检测等*的信号处理和软件处理技术,具有当前*水平。
高精度插回损测试仪 产品详情

 

型号:XST4060
测量范围:回损测试范围14 ~ 70 dB
测量精度:回损0.25dB,插损0.01dB
电源电压:AC90260V
尺寸:250*260*120mm
重量:3kg
用途:是用于光有源器件和光无源器件的回波损耗测试及设备装配检查、生产质量检测的的测量工具,可进行宽动态范围及高精度的光回波损耗测量
信息标题:插回损测试仪,可进行宽动态范围及高精度的光回波损耗测量
XST4060插回损测试仪是上海信时通开发研制出的带微处理器的精密光检测仪表,具有*的性能价格比。是用于光有源器件和光无源器件的回波损耗测试及设备装配检查、生产质量检测的的测量工具,是光纤通信系统研究、开发和生产,以及施工、维护等部门*的基本测试仪器。XST4060插回损测试仪可以进行宽动态范围及高精度的光回波损耗测量。由于采用了大动态范围和微弱信号检测等*的信号处理和软件处理技术,具有当前*水平。
 
性能特点:
- 操作简单,测量回波损耗及插入损耗过程中无需任何按键
- 测试速度快,回损、插损分别显示,测试结果一目了然, 减轻操作人员视觉疲劳
- 回损/插损测试波长同步自动设定, 减少操作步骤
- 可同时完成双波长测试
- 一机多用,经济实惠(可用作光插回损仪、台式光功率计、台式光源)
- 光源接头可拆卸、清洁方便,并提供全面的功率计接口配置
- 可将测试数据保存在电脑上,方便记录
 
操作简单:在测量回损及插损过程中无需任何按键操作,回损/插损值分别在一台仪器上的两个液晶窗口显示,测试结果一目了然。仪器将零值及参考值等参数自动存储在其内部,即便是仪器断电后再开机,正常情况下不需重复校准。
 
波长自动同步设定:在回损模式下,仪器将自动同步设定光源及功率计在同一测试波长;功率计模式时,可单独设定功率测试波长。
 
多种工作模式:仪器可设定的工作模式有:
- 1310nm测试,用于测试1310nm的回损及插损。
- 1550nm测试,用于测试1550nm的回损及插损。
- 双波长1310/1550nm测试,用于同时测试1310/1550nm双波长的回损及插损(标准产品为双光源)。
- 光功率计模式,用作为高动态范围(-70dBm)、高精度光功率计。
- 该测试站也可用作为高稳定激光源,起到一机多用的作用。
 
双波长测试:仪器内置的双波长测试模式将测试双波长1310/1550nm的回损及插损,双波长的回损/插损值将通过光源波长键切换显示在LCD上。
 
光学接口易于清洁:光功率计采用活动接口,可轻易卸下以便对光探测器进行清洁,或更换其它型号适配器如FC/SC/ST/2.5mm通用/1.25mm通用等,用于测试各种型号跳线。回损测试部分的FC/APC接口采用特殊结构,可轻易卸下对内部光纤接口端面进行清洁。同时,所有光学接口都具有防尘设计。
 
人体工学设计:仪器整机外观紧凑、美观、实用。面板采用按键开关设计,手感良好,外壳采用高质量铝塑机箱,确保仪器性能不受生产环境下可能存在的电磁干扰。LCD屏对比度高,并采用白色高亮LED作背光,显示清晰。仪器支架可随意调节,并配有提手,适应不同要求,符合人体工学。
 
测试精度高:仪器内部采用的微电子技术以及高质量光学器件,配合精心编程的内置软件,使得仪器光源输出功率高且极其稳定,测量范围宽,测试速度快,具有惊人的测量准确性以及重复性。
 
 技术指标:

型号
XST4060A
XST4060B
XST4060C
光回波损耗测试
回损光源波长
1310/1550nm
1310nm
1550nm
回损测试校准波长
1310/1550nm
1310nm
1550nm
回损测试范围
14 ~ 70 dB
测试精度
0.25dB
光源输出稳定性
0.05dB/小时 ( @ 25
接口类型
FC/APC
光插入损耗测试
波长范围
0.851.7μm
检测器件
InGaAs
功率测量范围
70 ~ 6 dBm (其他范围可选
校准波长
850/1300/1310/1550nm
测试精度
0.01dB
测试模式
dBm/dB/WATT
显示分辨率
对数:0.001dB;线性:0.001nw/μW/mW
接口类型
活动接口, FC/SC/ST/ 通用φ2.5mm / 通用φ1.25mm适配器
整机参数
电源
AC90260V
操作环境
工作温度0 +45℃湿度≤85% RH
尺寸/重量
250*260*120D*W*H,  3Kg

 产品组成:
主机; 电源线; FC/SC/ST/ 通用φ2.5mm / 通用φ1.25mm适配器;
说明书; FC/APCFC/APC跳线一根; FC/APCFC/PC跳线一根;
清洁棉签; 光盘; 另可选配USB线。
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