技术规格:
LCR测量参数 | C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR | ||||||||||||||||||||
测试频率 | 20 Hz~1MHz,10mHz步进 | ||||||||||||||||||||
测试电平范围 | f ≤ 1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV) f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV)恒电平到5V | ||||||||||||||||||||
输出阻抗 | 25Ω 50Ω, 100Ω | ||||||||||||||||||||
基本准确度 | 0.1% | ||||||||||||||||||||
测量速度或测试时间 | 快速:80次/s(f﹥30KHz),100次/s(f﹥1KHz) 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s | ||||||||||||||||||||
等效电路 | 串联方式, 并联方式 | ||||||||||||||||||||
量程方式 | 自动, 保持 | ||||||||||||||||||||
触发方式 | 内部, 手动, 外部,总线 | ||||||||||||||||||||
平均次数 | 1-80 | ||||||||||||||||||||
清零功能 | 开路 / 短路扫频清零 ,负载校准 | ||||||||||||||||||||
内部直流偏置源 | 电压模式:-5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进, 电流模式(内阻为50Ω):-100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进 | ||||||||||||||||||||
比较器功能 | 十档:(九档合格,一档不合格),另有一个附属档 | ||||||||||||||||||||
存储器 | 可保存20组仪器设定值 | ||||||||||||||||||||
接口 | RS232C,HANDLER, | ||||||||||||||||||||
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列表扫描 | 10点列表扫描 | ||||||||||||||||||||
显示器 | 320×240点阵大型图形LCD | ||||||||||||||||||||
测试端 | 5端法 | ||||||||||||||||||||
显示方式 | 直读, ΔABS, Δ%, V/I(电压/电流监示) , 档号及档计数 |
广泛的测量对象:
无源元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
半导体元件:电容器、电感器、磁芯、电阻器、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数测量。
其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等的阻抗评估。
介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数的损耗角评估。
磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估。
半导体材料:半导体材料的介电常数,导电率和C-V特性。
液晶材料:液晶单元的介电子常数、弹性常数等C-V特性。
多种元件、材料特性测量能力
揭示电感器件的多种特性
JK2818高频自动元件分析仪的性能和20Hz-1 MHz的测试频宽可以精确地分析磁性材料、电感器件的性能。使用JK10301选件的100mA DC的偏置电流可以精确测量高频电感器件、通讯变压器,滤波器的小电流叠加性能。使用JK1775电流叠加装置,可使偏置电流达40A以精确分析高功率、大电流电感器件。
精确的陶瓷电容测量
1kHz和1MHz是陶瓷材料和电容器的主要测试频率。陶瓷电容器具有低损耗值的特征,同时其容量、损耗施加之交流信号会产生明显的变化。仪器具有宽频测试能力并可提供良好的准确度,六位分辨率和自动电平控制(ALC)功能等,中以满足陶瓷材料和电容器可靠、准确的测试需要。
液晶单元的电容特性测量
电容-电压(C-Vac)特性是评价液晶材料性能的主要方法,常规仪器测量液晶单元的C-Vac特性遇到一个问题是zui大测试电压不够。使用JK10301选件可提供分辨率为1%及zui高达20Vms的可编程测试信号电平,使它能在*条件下进行液晶材料的电容特性测量。
半导体材料和元件的测量
进行MOS型半导体制造工艺评价时,需要氧化层电容和衬底杂质密度这些参数,这些可从C-Vdc特性的测量结果推导出来。
20HZ-1MHz的测量频宽及高达40VDC的可编程偏置电压方可方便地完成C-VDC特性的测量。
为了测试晶圆上的半导体器件,需要延伸电缆和探头,仪器的2m/4m延伸电缆选件可将电缆延伸的误差降至zui小。各种二极管、三机管、MOS管的分布电窜也是本仪器的测试内容。
适应多种领域的测试需要 提高生产效率
JK2818高频自动元件分析仪 30次/秒的测试速度可满足大多数生产场合高效测试的需要,从而提高生产厂的产能。内建比较器、电缆长度补偿、Handler接口可方便地用于自动测试系统。
JK10301及JK1775的配置解决了器件直流偏置测量的要求。提供径向、轴向、SMD元件的多种测试夹具配置。
用户友好的操作界面简化的前面板操作
仪器配置的320x240点阵的LCD显示器使操作者可清晰地观察测量结果,各种设定状态一目了然,交互式软键大大简化了仪器操作。
非易失性存储器以保存多种仪器设置
JK2818高频自动元件分析仪提供有内部非易失性存储器可保存20组仪器测量设置,
比较器功能 | |||
比较器 | 测量的参数值可以分选为10档 测量得出的副参数也可以比较输出IN/OUT信号 | ||
计数值 | 0 — 999999 | ||
列表扫描比较 | 扫描列表中的每个点都可以输出HIGH/IN/LOW信号 | ||
输入保护 | |||
当充电的电容连上测试端时,内部保护电路工作。 zui大可以保护的电容电压可以由下式推出: where: Vmax ≤200V C is in Farads | |||
其他功能 | |||
存储功能 | 外部非易失存储器可以保存20个仪器的设置文件 | ||
RS232C | 所有的仪器控制参数,测量值,比较值和扫描列表都可以通过RS232C实现多机通讯或对PC通讯。 | ||
选件 | |||
JK10301 | 功率放大/直流偏置 增加交流信号到 20Vrms / 0.2Arms. 扩展直流偏置范围到 ±40V DC. | ||
JK10401 | 2m / 4m 测试线选件 扩展测试线的长度,增加2m或4m。 | ||
JK10202 | Handler 接口 输入的9对上下限值可以分选10档的L、C或|Z|值。 Handler提供与自动分选机相连的接口。所有的信号都是单独的。 | ||
准确度(细节请查看操作手册) | |||
测试环境 | 热机时间 | ≥30 分钟 | |
环境温度 | 23±5ºC | ||
测试信号电平 | 0.3Vrms – 1Vrms | ||
清零 | 开路 和 短路 | ||
测试线长度 | 0 m | ||
|Z|, |Y|, L, C, R, X, G, B | ±[A+(Ka+Kb+Kc)×100] (% of reading) 1. A 是图1和2中的基本准确度因子 2. Ka and Kb 是阻抗比例因子 Ka 用于阻抗低于 500Ω Kb 用于阻抗高于 500Ω. 3. Kc 是差值校准值. 直接修正频率时 Kc=0 其他频率时 Kc=0.0003 4. C, L, B 测量时 D ≤ 0.1 R, G 测量时 Q ≤ 0.1 | ||
D | ±[Ae/100] (D的值) 当 A=[A+(Ka+Kb+Kc)×100] | ||
Q (When Qx×De<0.1) | 当, Qx 符合 Qvalue时 De 是 D 的精确度 | ||
θ | DEG | ±[Ae/100] (degress 值) | |
RAD | ±[(180/π)×(Ae/100)] (degress 值) |
工作温度, 湿度 | 0℃ — 40℃, ≤90% RH |
电源要求 | 198 V — 242 V AC,99 V-121 V AC 47.5 Hz — 63 Hz |
功耗 | ≤100 VA |
尺寸(W×H×D) | 430 mm×185 mm×300 mm |
重量 | 8.5 kg Approx |