数字IC测试仪 集成电路测试仪 TD-ICT-33C
2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908 339 192 293 393 555 556 324 22100 2802 2803 2804 9637
数字IC测试仪 集成电路测试仪 TD-ICT-33C
功能特征
TD-ICT-33C集成电路测试仪:
可测1300种器件.
可对器件好坏判别,型号判别,老化测试,
器件代换查询,内部RAM数据修改,
EPROM、EEPROM器件读出写入. 数字IC测试仪 集成电路测试仪 TD-ICT-33C
功 能 参 数
主要功能
器件好坏判别：当不知被测器件的好坏时，仪器可判断其好坏。
器件型号判别：当不知被测器件型号时，仪器可依据其逻辑功能来判断其型号。
器件老化测试：当怀疑被测器件的稳定性时，仪器可对其进行连续老化测试。
器件代换查询：仪器可显示有无逻辑功能*、引脚排列*的器件型号。
内部RAM数据修改：ICT?/FONT>33C可从键盘对自己内部RAM 中的数据进行随机修改。
EPROM、EEPROM器件读入：ICT?/FONT>33C可将64K以内的EPROM、EEPROM器件内的数据进行读入并保存。
EPROM、EEPROM器件写入：ICT?/FONT>33C可将内部RAM中的数据写入到64K以内的EPROM、EEPROM器件中，并自动校验。
可 测 器 件（1300多种）
CMOS40系列：103种。
CMOSMC140系列：103种。
CMOS45系列：60种。
CMOSMC145系列：60种。
光耦合器系列：133种。
TTL74/54系列：714种。
TTL75/55系列：82种。
数码管系列：
0.5吋共阳[001]；共阴[002]；0.3吋共阳[003]；共阴[004]；0.7吋共阳[005]；共阴[006]。
常用RAM系列：
2112 2114 2016 6116 6264 6225 6 60256 628128
EEPROM系列：
2816 2817 2864 28256 28040 29101
EPROM系列：
2716 2732 2764 27128 27256 27512
微机外围电路系列：
8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282 8283 8216 8816 8243 8226 8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6810 6520 8254 8251 8279 8708 6840 8718 8728 Z8OCTC（8O2）
常用单片机系列：
8031 8032 8051 8052 8048 8039 8035 8049 8751 8752
其他系列：
2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908 339 192 293 393 555 556 324 22100 2802 2803 2804 9637 9638 7831 7832 8831 8832 3 446MC1413（2003） MC1416（2004） MC14160（40160） DG201 MC14161（40161） MC14162（40162） MC14163（40163） TIL308 MC14189（75189） 2902（324） 8T26（826） AD7506
电路板故障维修测试仪
新型的GT4040UXP-Ⅱ可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系统下工作，带有USB接口，双CPU工作，速度更快，效率更高。可测三端器件，另外有俄罗斯库，西门子库，可定量测试L，C，R参数,,可对运算放大器，光耦，三端电源进行测试。
。
产品特点：
在维修各种电子设备时，您是否常因图纸资料不全而束手无策？您是否常因高昂的维
修费用而增添烦恼？
[GT]系列检测仪帮助您解除电路板维修中的烦恼。配合电脑使用，全部智能化。它利
用电脑来弥补人工维修能力的不足，能够在维修人员缺乏图纸资料或不清楚电路板工作原
理的情况下，对各种类型的电路板进行ASA分析或ICT测试，在线检测元器件好坏，迅速检
测到电路板上故障元器件。简捷经济地修好各种类型电路板。
产品特点：
◆*的测试技术，强大的驱动能力，任何故障原因的电路板皆可修好
◆友好简单的中文操作界面，不经专业训练，任何人均可成为维修专家
◆无需电路原理图，不必知道器件型号，对任何电路板皆可快速维修
◆40×2路数字电路测试功能，备有TTL/CMOS/RAM及中规模集成电路数据库；
◆40×2（ASA）V/I，曲线分析测试功能
◆电路板测试存储功能，被测板可与之比较
◆与进口同类仪器比较，性价比更优，操作更方便
◆通用于各类双列直插式封装芯片，可为大中规模集成电路提供分析测试。
◆本功能亦可通过学习记录，比较分析来测试。
技术规格：
Windows界面可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等系统下工作
双CPU工作，速度更快，效率更高。
功能测试40×2通道
VI曲线测试40×2通道
双测试夹VI曲线测试
网络提取 程控加电
EPROM/RAM在线读取
模拟器件 VI曲线测试
总线隔离信号
中文维修笔记
一、序言
GT/ICT系列测试仪已推出近十年。一方面渐入人心，一方面用户也有了更高的要求。我公司集多年不懈努力，成功研制出换代产品GT/ICT-Ⅱ系
列，把GT/ICT测试仪发展到了一个新的阶段，能够更好的满足用户的实际需求。
从测试技术方面来看，GT/ICT测试仪是“后驱动”、“器件模拟端口分析（ASA）”测试技术的简单使用，而GT/ICT-Ⅱ系列是在跟随这两项技
术在上的发展，在总结了多年来的实际应用经验的基础上重新设计而成，因而有更好的测试效果；从产品的软、硬件实现技术方面来
看，GT/ICT软件脱胎于DOS系统，主要由中小规模集成电路组成，而GT/ICT-Ⅱ系列*在Windows平台上打造，大量采用了大规模EPLD、表面贴
装器件等现代电路设计技术，因而具有更友好的人-机界面，更高的技术指标和可靠性。
全面提高技术水平的目的，是改进、扩充测试功能。为突出重点，首先在本文中介绍对两个zui常用的测试功能：“ASA（VI）曲线测试”、“数
字器件在线功能测试”的改进。（注意相同之处不再赘述，请参见GT/ICT测试仪的相关说明）。我们将在以后的文章中，介绍其它方面的改进
。
需要说明的是，市场上的GT/ICT系列测试仪有几个版本，总体水平差别不大，仅软件界面形式略有不同。本文主要以其中一种作为参照。
二、对ASA（VI）曲线测试的改进
2.1 大大扩展了故障覆盖范围
这里扩展范围，是指GT/ICT测试仪不能测试，或测试效果不好，而GT/ICT-Ⅱ能够测试，或测试效果有较大改进。
2.1.1 测试三端器件
GT/ICT测试仪不能全面检测三端器件的好坏。GT/ICT-Ⅱ*解决了这个问题。
三端器件是指闸流管（可控硅）、MOS三极管、电压调节器等具有三个引出端，以及光藕、继电器等可以等效成三个引出端的器件。下面以闸流
管（可控硅）为例，来说明GT/ICT-Ⅱ如何改进了对此类元件的测试。
用GT/ICT测试闸流管，当ASA（正弦）测试信号加在它的阳极和阴极之间时，控制端没有信号，闸流管处于截止状态，所以从曲线上只能观察到
截止状态是否正常（两极之间是否短路、或有较大漏流），不能发现导通状态是否正常。比如，会把阳极和阴极开路的故障误判成截止状态正
常。
GT/ICT-Ⅱ设计了一个脉冲信号，测试时加在闸流管的控制端，控制闸流管在ASA（正弦）测试信号期间出现导通、截止两种状态，实现了对闸
流管进行全面的检测。
例1：用GT/ICT-Ⅱ测出的*闸流管的曲线
图中横线是否足够水平反映了截止状态是否够好、竖线是否足够垂直反映了导通阻抗是否足够小、竖线与纵轴的间距就是导通电压的大小。
（GT/ICT测试仪只能测出一根水平线。）
测试不同的三端器件需要不同的控制方式——正弦波和脉冲的匹配（同步）形式。为了更好地满足测试各种三端器件的不同要求，在GT/ICT-Ⅱ
上共设置了八种匹配方式——脉冲相对于正弦波的起始、结束位置及宽度、高度均可调整；支持单向触发、双向触发。详细情况请参见产品使
用说明。
2.1.2 自动曲线灵敏度调整
GT/ICT测试仪没有ASA曲线对电路变化（故障）的自动灵敏度调整功能，有些本该能够检测出来的故障因此不能发现。
我们来比较下面三组电阻的ASA曲线。
0.1K/0.15K 1K/1.5K 10K/15K
*组显示了0.1K和0.15K电阻的VI曲线；第二组1K和1.5K；第三组10K和15K。尽管实际电路的相对变化大小*相同，但看上去中间两条曲线
差别大，两边的要小得多。我们说，中间组的曲线灵敏度高，而两边组的灵敏度低。由于ASA测试是通过曲线位置差异大小来发现故障的，所以
，在故障测试中很可能只判断中间组有问题。
可以证明，VI曲线的走向趋势越接近45度，反映电路变化的灵敏程度越高；如果VI曲线是一个封闭图形，曲线包围的面积越大，灵敏度越高。
曲线的灵敏度与被测试点的特征和测试参数相关。依据具体的结点特征，调整测试参数，从而得到较高灵敏度的曲线，叫做调整VI曲线（关于
电路故障的）灵敏度。
GT/ICT-Ⅱ新增加了自动曲线灵敏度调整功能。对于上面三种情况，在选中自动灵敏度调整后，测到的三组曲线都和中间组一样。
2.1.3 测试大电容
GT/ICT只能测试zui大约两、三百微法的电解电容的好坏。GT/ICT-Ⅱ把检测范围扩大到了两万微法以上。
排查电路板上容量较大的电解电容的漏电、容量变化导致的故障，是一件相当令人头痛的事情。对维修测试来说，利用ASA曲线测试进行检测可
能是的办法。但是GT/ICT测试仪的测试范围小，当容量到几百微法以上时，本该是一个椭圆的电容ASA曲线就蜕化成了一根短路线（所包围
的面积趋于零），根本无法判别出好坏。GT/ICT-Ⅱ加宽了测试仪的技术指标，对于高达两万多微法的电容，都能测出一个包围了相当面积的椭
圆。
2.1.4 给同一器件的不同管脚设置不同的测试参数
GT/ICT没有这个功能，导致对有的器件测试效果差，有的器件无法测试。
用GT/ICT测试仪测试一个有多个管脚的器件的曲线，所有管脚都只能使用同样的测试参数，所有管脚都要依次测试一遍。但实际检测中，确实
存在不同管脚使用不同测试参数，来保证测试效果，也存在个别管脚不允许测试的情况。
比如，集电极开路器件7403的输入是标准TTL电平，而输出zui大耐压可达32V，常用于驱动数码管、继电器等。测试这种器件，测试输入、输出
脚的信号幅度要分别设置：对输入应设在略大于5V；对于输出应设置在略大于负载电压，小于32V之间（比如驱动12V数码管时一般用15V），才
能达到全面检测的目的。GT/ICT测试仪不能满足这种使用要求。
还有，电路板上带电池的存储器里面有数据，在它的电源端、片选端不能加任何测试信号，否则会导致数据丢失。GT/ICT测试仪不能测试这类
器件。
GT/ICT-Ⅱ测试仪考虑到了这些情况。允许分管脚设置测试参数，也允许不做测试的管脚。
2.2 大大提高了测试可靠性
测试可靠性是指测试结果能真实反映实际情况，不会导致用户误判故障的能力。
2.2.1 曲线稳定性问题
GT/ICT测试仪不能发现不稳定曲线，会把好电路误判为有故障。
即使电路**，也存在这样的情况——在同一个管脚上，每次测到的曲线有明显不同。这种情况叫做该处的曲线不稳定。产生不稳定
曲线的原因以及如何让曲线稳定下来的办法请参见“电路在线维修测试仪上的ASA测试”。《设备管理与维修》2006.6,2006.7。但测试仪首先
要能够把不稳定曲线识别出来，然后才谈得到处理，否则就可能把好电路误判为有故障。
GT/ICT-Ⅱ能够把不稳定曲线识别出来，并且能具体指示出哪一个管脚上的曲线不稳定，这无疑有助于提高测试结果的可靠性。
2.2.2 接触问题
使用测试夹学习ASA曲线的时候，器件管脚氧化、防锈涂层未打磨干净、测试夹引脚磨损等原因，经常造成夹子引脚与器件引脚接触不上，结果
学习到了一条虚假的开路曲线；比较曲线时也有同样问题。这种不可靠的曲线会导致误判，所以在实际使用中，一旦发现开路曲线，都要再次
确认，比如打磨该引脚后重测。
问题在于使用测试夹测试时，一次测试要处理许多条曲线。曲线多了以后，往往不能在一屏上一起都显示出来。象GT/ICT测试仪那样，靠人工
从许多条曲线中确认有无开路曲线，得来回翻屏或滚屏，不但效率低，而且容易漏检。
GT/ICT-Ⅱ设计了自动开路曲线侦测、提示功能。在一次测试到的所有曲线中，只要存在开路曲线，会给出多种提示信息。根据提示很容易找到
它在哪个管脚上，很难漏检。
2.2.3 平均曲线
当测试大量的相同对象（比如一批同样的电路板或相同器件）时，使用从哪个好的电路板或器件上学习到的曲线作为参照标准为呢？
使用GT/ICT-Ⅱ测试仪，可以先学习几个好的电路板或器件，得到多个文件，然后利用平均曲线功能，把这些文件中的曲线自动求平均后，再自
动生成一个新的曲线文件，作为以后的测试比较标准。该功能通常用于建立高质量的标准曲线库。
2.3 大大提高了使用效率
2.3.1 迅速发现并找到异常曲线（开路、不稳定、比较超差）
用测试夹进行测试时，一次会提取、显示出多条曲线。如何才能迅速判定这些曲线中是否有异常曲线（开路、不稳定、超差），并迅速找到异
常曲线呢？
使用GT/ICT，需要用户把所有曲线逐一检查一遍后进行判断。不但效率，而且容易漏判。为此，GT/ICT-Ⅱ增加了新的显示手段。
1．前面已经说明，GT/ICT-Ⅱ能够自动检测异常曲线。在一次测试中哪怕只有一条异常曲线，首先在屏幕上部显著位置提示：有开路曲线或有
不稳定曲线或比较超差，以引起用户注意；
2．在学习曲线时，增加了按先异常、后正常排列方式，将异常管脚曲线排列在其它管脚曲线的前面；
3．在曲线比较时，增加了按曲线误差大小顺序排列的方式，自动将误差较大的曲线排在前面（由于比较时主要关心超差曲线）；
4．打开管脚列表窗口，直接提示在管脚号的旁边。
2.3.2 测试曲线
一次测试了多条管脚曲线后，可能对某个管脚曲线有疑问，或不太满意。比如，有异常曲线，要进行适当处理（比如对开路曲线，打磨该管脚
）后重测；或者想修改某条曲线的设置参数后，再重测该条曲线，观察其变化。使用GT/ICT-Ⅱ，在做完处理后，你只要用鼠标双击某曲线，就
将仅仅测试这条曲线，其它曲线*不受影响。方便、快捷。
2.3.3 由管脚号查找曲线
当一次测试的曲线较多，一屏显示不下时，要来回翻屏或滚屏才能查看某个管脚的曲线，影响效率。GT/ICT-Ⅱ增加了直接从管脚号查找曲线的
功能。只要在脚号列表窗口中双击某脚号，就自动把该管脚的曲线移到屏幕显示区，并用彩色框框起来。十分快捷。
2.3.4 声音提示
双探棒直接对照测试方式相当常用。用GT/ICT进行测试时，每测试一个引脚，要先低头——把两个探棒稳定接触在相应被测管脚上，然后再抬
头看屏幕——确认对照结果，一上一下，有人开玩笑称为“鸡啄米”。当处理的脚数多时，相当辛苦且影响效率。
GT/ICT-Ⅱ上设置了声音提示。只要比较不超差（这是大多数情况），计算机就发出“嗒嗒”的提示声，类似于使用万用表的BEEP挡，基本解决
了这个问题。
2.4 大大改善了人-机界面友好程度
2.4.1 三种曲线坐标
GT/ICT只在电压(V)-电流坐标(I)上显示器件的端口特征曲线，这也是通常把ASA测试叫做VI曲线测试的原因。但对有的测试结果，换一种坐标
可能更容易理解曲线所反映的电路问题。这就好比解析几何中有直角坐标系、又有极坐标系一样。
GT/ICT-Ⅱ测试仪提供三种坐标：电压(V)-电流(I)坐标、时间(T)-电压(V)坐标和电压(V)-电阻(R)坐标。下面给出*闸流管在两种不同坐
标下的曲线。
电压(V)-电流(I)坐标 时间(T)-电压(V)坐标
注意右边的曲线。在测试（正弦）信号的四分之一处，控制极上的触发信号使闸流管导通，曲线变成一段水平线。水平线距横轴的距离就是闸
流管的饱和电压。
2.4.2 在曲线上提示参数（Tooltips）
把鼠标光标放在曲线上，GT/ICT-Ⅱ利用Tooltips技术显示出光标处的参数。十分方便。请参见上图。
2.4.3 管脚命名
GT/ICT在管脚曲线上提示的管脚号只是阿拉伯数，并且所有管脚只能按数字顺序一维排列。这在有些时候极为不方便。
比如，有的器件管脚是两维排列的。横着数是a、b、c……，竖着数是1、2、3……。b3表示位于第二列，第三行的管脚；有的电路板外引脚有
上百个，对有的特别引脚会有专门标识—常见的是标识它上面的信号名称。如果只能用一维数字作为管脚名，查找起来极为不便。
GT/ICT-Ⅱ既能够自动对管脚按一维排列方式分配管脚序号，也允许用户给管脚命名。序号和用户命名同时提示在相应曲线上。查找起来非常方
便。
2.4.4 自定义曲线显示颜色
不同人对颜色有不同偏好。长期工作在不舒服的颜色下易于疲劳。GT/ICT-Ⅱ允许用户修改曲线、坐标、字符、背景等的颜色设置。为自己营造
一个较为舒服的工作环境。
三、对数字器件在线功能测试的改进
数字器件在线功能测试，是指对电路板上的器件直接进行逻辑功能好坏的检测。对这项功能的改进主要包括三个方面：
1．加强对测试条件的检查能力；
2．加强用户对测试过程的控制；
3．加强对被测试器件的在线工作环境的识别能力。
通过上述改进，有效提高了测试结果的准确性。
3.1对测试条件检查能力的加强
3.1.1 接触检查
测试夹与被测器件接触不好可能会造成错误测试结果。GT/ICT-Ⅱ在检查到测试夹引脚对地电阻大于约1M欧时，会提示接触不良（开路）。
不过提示开路不一定总有接触问题。比如使用在线测试功能，测试处于离线状态的CMOS器件时，由于这种器件的输入阻抗很高，所有输入脚都
会判成开路。
实用中如果测试失败并且提示有开路状态，应确认是否属于正常情况。如果测试成功，一般可忽略。
3.1.2 电源电压检查
这项测试要求必须给被测电路板加电。TTL器件的标称工作电压是5V±5%。电源电压不达标有可能导致器件工作不正常。GT/ICT-Ⅱ在测试前会
自动检查器件上的电压是否达标。当电源电压超*，将给出警告提示；
3.1.3 非法电平检查
本测试仪仅支持5V的TTL、CMOS器件的测试。正常情况下器件所有管脚上的电平值总在大于0V，小于5V之间。但对一个有故障的电路板来说，什
么情况都有可能发生。GT/ICT-Ⅱ在测试时一旦检测到器件上有超过电压区间20%的电平值，将立即给以提示。为了安全起见，不再继续测试下
去。
3.2对用户控制测试过程的加强
3.2.1 调整阈值电平
当TTL器件的输出低于0.8V，说它输出为低（电平）；高于2.4V，说它输出为高（电平）。这里的0.8V，2.4V就是TTL的低、高标准阈值电平。
大致上说，器件的高电平越高，低电平越低越好。GT/ICT的阈值电平是做死的，不能调整。GT/ICT-Ⅱ从硬件上进行了扩充，允许用户修改阈值
电平。比如，允许设为0.5V，3.0V进行测试。
这是一项很有价值的改进。实用经验表明，使用在线维修测试仪测试一个真正好的TTL数字器件，它的高电平会远高于标准高阈值2.4V，低电平
比标准低阈值0.8V低很多。究其原因，可能是在线维修测试仪的测试速度比器件的实际工作速度低很多，分布参数造成的负载轻很多；反之，
如果测试到一个器件的高、低电平很接近标准阈值，这往往表示该器件的驱动能力已明显下降，虽然能通过测试，但不能保证上机正常工作，
换掉。
3.2.2 修改测试频率
GT/ICT-Ⅱ的测试频率分4档可选：45Ktv/S，20Ktv/S，5Ktv/S，1 Ktv/S（Ktv/S=千条测试向量/每秒）。缺省值为20Ktv/S。实际测试时，可根
据具体情况选用。比如74HC类低功耗器件，测试失败后可降低速度再试一次。
3.2.3 加电延迟时间
在进行测试时，GT/ICT-Ⅱ自动控制给电路板加电——测试一个器件的瞬间接通电源，测试完成后关断。这样的好处是避免用户误操作损坏电路
扳，带来的问题是由于电路板上一般有较大电源滤波电容，加电后，电路板上的电源电压是逐步上升的，需要延迟一段时间后才能达到预期值
。不同大小的电路板需要的延迟时间不同。所以GT/ICT-Ⅱ允许用户设定接通电源延迟多长时间后开始测试。
3.3对器件在线工作环境识别能力的加强
测试电路板上的器件时必须使用适当的隔离技术来消除关联器件对被测试器件的影响。后驱动隔离技术专门用于数字器件的在线测试隔离。
后驱动技术有一定的使用条件，不满足这些条件就会由于隔离不成功而测试失败，把好器件测成坏器件。对在线器件工作环境的识别，就是尽
量把影响后驱动技术正确使用的情况检查出来，避免误判。
3.3.1后驱动技术原理及应用中的问题
后驱动技术是美国人在上世纪60年代发明的。可简单说明如下：
电路结点一般由器件的一个输出和若干个输入组成。参见图一。设测试U3，就要在U3各输入脚所在的电路结点上施加测试信号。由于决定结点
电位的是器件输出而不是输入，参见图中的X结点，在该结点上加信号实质上是如何驱动U1的、与X引脚关联的输出，使它能够根据测试要求为
高或为低。U3的输出可以直接取回来。
假定X结点当前状态为低电平，怎样把它驱动至高电平呢？参见图二给出的TTL器件的典型输出结构。
输出低电平时，Q1截止，Q2饱合，这个低电平就是Q2的饱合压降，约在0.3V以下。Q2的饱和条件为：β2*Ib2>>Ic2。通过测试仪给Q2的集电极
注入一个足够大的电流，使Ic2变得很大，Q2脱离饱合，它的输出就会升起来。问题在于Q2上的功耗：P=Ic2*Vce2 会随Ic2、Vce2的增加迅速增
加到P > Pcm（zui大额定功耗）。这是否会损坏Q2呢？后驱动技术证明，只要驱动时间不超过26毫秒，不会有问题。在发达，满足这个时间
要求的在线测试仪器允许用于设备。
对于输出为高而要驱动为低的情况，分析方法相同，只是把向Q2集电极灌电流改为从Q1发射极拉电流。
从以上对后驱动技术的说明可以看出：
1．后驱动技术用于隔离数字器件之间的关联对测试的影响；
2．假定一个电路结点由一个输出多个输入组成；
3．被测试器件上不能有其它逻辑信号；
4．不能处理异步时序电路。
然而在实际电路板上，确实存在着数字器件和非数字器件关联（比如数字器件输出驱动晶体管基极、运放驱动数字器件输入）、一个电路结点
上有不止一个数字器件输出（比如数据总线）、被测器件上有其它逻辑信号（比如板上有晶振）等等。这些情况经常会影响后驱动技术的正确
使用（一般称作隔离不开），会导致不正确的测试结果。
3.3.2 对和非数字器件相关联的处理
这种情况造成隔离失败的原因，主要是结点电位被非数字器件钳死，或者驱动信号被非数字器件吸收，加不上去（也相当于电平被钳位）。下
图中给出了两种常见的结构。
GT/ICT-Ⅱ能把这些情况识别出来，以管脚状态的形式提示给用户，当器件测试失败后，供用户进一步分析。GT/ICT-Ⅱ能够识别出6种与此相关
的管脚状态：
电 源：恒高且为电源脚；
恒 高：不可驱动至低于高阈值；
不可高：不可驱动至高于高阈值；
不可低：不可驱动至低于低阈值；
恒 低：不可驱动至高于低阈值；
地 ：恒低且为地脚。
3.3.3 对多输出结点的处理
对多输出结点通常要用总线竞争屏蔽信号（GUARD信号）去解除非被测试器件的输出对被测器件输出的影响。有的版本的GT/ICT测试仪没有
GUARD信号、有的版本只有1、2个GUARD信号—－这在许多情况下不够用；有的版本的GUARD信号不可控，仅是通过一个小电阻接到电源上——这
不符合后驱动技术的要求，会损坏被屏蔽器件。（详细说明请参阅有关文章）
GT/ICT-Ⅱ设置了8个*后驱动技术的要求GUARD信号，并且用户可控。
3.3.4 对板上有逻辑信号的处理
电路板上的逻辑信号可能干扰正确测试。GT/ICT-Ⅱ在测试前会进行检查。如果在被测器件的管脚上发现有逻辑信号，会作为一种管脚状态“有
翻转”提示出来。由于这种情况可能影响、也可能不影响测试结果，所以当测试成功后，可忽略；当测试失败时，才需要用户处理。
3.3.5输入浮动
管脚状态“输入浮动”一般情况下是该管脚悬空。除非该管脚直接与电路板的插脚相连，否则意味着该脚断线。尽管这并不影响对该器件的测
试，但它反映了电路板上一个可能的故障，所以也作为一种管脚状态提示出来。
3.4 提高测试准确性的一般方法
从以上讨论可以看出，受测试条件、器件工作环境的影响，在线测试的结果有一定的不确定性。从进口测试仪产品来看，主要通过两种办法来
提高测试的准确性：
1．加强对影响测试结果的外部因素的识别能力。在测试仪产品上的具体体现，就是高档的测试仪能识别的管脚状态种类多，低档的能识别的状
态少。比如某进口测试仪能识别约15种、GT/ICT-Ⅱ能识别约11种、GT/ICT大约仅4、5种。
2．由于在线测试的不确定性，把整个测试过程尽量详细的显示出来，供用户结合测试结果进行进一步分析，这几乎可以说是在线测试的基本设
计原则之一。GT/ICT-Ⅱ比较好的贯彻了这个原则。遗憾的是某些国产测试仪的设计者没有真正理解这一点，有些测试功能仅给出“测试通过”
、或“测试失败”的提示，测试过程几乎没有提示。
四、结语
电路在线维修测试仪所依据的技术原理并不复杂，但是依据同样这些技术做出的测试仪产品却是千差万别，而且许多差别，是在你比较深入的
了解了这项技术，有了相当的使用经历后才能体会得到。希望本文能对进一步了解这种产品提供帮助。
 | 产品名称：垂直振荡器振荡器 产品型号：HVS-06 |
垂直振荡器振荡器型号：HVS-06
仪器介绍
HVS系列垂直振荡器振荡频率，振荡时间可调，样品支架可以适合多种 规格的分液漏斗，多可以同时处理8个样品，能大幅度提高工作效率，减轻工作强度。产品使用灵活，操作方便，满足多种场合的应用。
HVS系列垂直振荡器振荡频率利用振动幅度大，速度快之优势达到了液液萃取式混合的目的。既保证了样品处理的*性，又大大降低了检验员的劳动强度。
主要特点
1.运行平稳，低噪音。
2. 样品托架可以自由滑动，安放或取下样品简单方便。
3. 振荡速度和运行时间用液晶屏显示，直观简洁。
4. 振荡速度为无极速度，启动和变速都有缓冲功能，减少对样品容器的冲击。
技术参数
名称HVS-6
转速40～300r/min
振幅40mm
功率300W
外形尺寸560x440x520（LxWxH）
重量52kg
