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仪表网>产品库>分析检测>光学测量>显微镜/望远镜>NanoFirst-3100型扫描探针显微镜
  • NanoFirst-3100型扫描探针显微镜

NanoFirst-3100型扫描探针显微镜

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具体成交价以合同协议为准
  • 型号
  • 品牌
  • 所在地
  • 更新时间2018-05-15
  • 厂商性质经销商
  • 入驻年限1
  • 实名认证已认证
  • 产品数量46
  • 人气值1083
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适合于高校纳米科技教学、科学研究、纳米材料及粉体分析、电化学测量、生物制药、会议现场演示和工业现场测试,基本配置包括高分辨CCD观察系统,具有操作简便、实用性强的特点。
NanoFirst-3100型扫描探针显微镜 产品详情
特点

激光反射式检测工作模式

轻敲式软样品成像能力,生物大分子及粉体纳米材料检测,超高分辨率

轻敲模式、相位模式

AFM接触式形貌测量,原子力曲线采集显示

STM恒流模式、恒高模式、I-V、I-Z曲线测量功能

特殊设计液体池,具备液体中轻敲式AFM成像能力

深度陡度测量,三维显示

纳米材料粗糙度测量,颗粒粒径度量及分布统计

实时观测比照的形貌图、摩擦力图、相位图、静电力图、磁力图

实时多通道剖面图显示

专为科研和工业应用设计,结构小巧美观

可 选配单分子操纵、局域电性能测量、纳米刻蚀和加工功能

DSP全数字化控制,操作简洁直观

控制主机可以采用笔记本电脑,适合课堂现场演示

XY二维样品移动平台,快速搜索感兴趣的样品区域

步进马达自动进行针尖-样品逼近(STM自动保护针尖)

Windows全中文控制软件,面 向对象设计

提供实验标准光栅、云母和HOPG样品

组合光学连续变倍显微镜,*的双光路照明,样品观测范围从1nm到20mm

360°*彩色CCD成像系统,方便系统调整,可实时样品录像

RS232/USB接口,无需任何计算机卡,安装简单迅速

 

技术指标

探头:

样品尺寸:≤Φ30mm

样品厚度:≤15mm

XYzui大扫描范围:标准配置6μm×6μm,可选3μm×3μm, 10μm×10μm,

20μm×20μm,50μm×50μm,100μm×100μm

XY向分辨力:0.4nm(轻敲式),0.25nm(AFM),0.1nm(STM)

Z向分辨力:0.05nm(轻敲式,DNA定标),0.03nm(AFM,云母定标),0.01nm(STM,HOPG定标)

XY二维样品移动平台范围:0~5mm

步进马达自动进行针尖-样品逼近(STM自动保护针尖)

仅需更换探针架,即可切换STM、接触式AFM、轻敲模式

电化学针尖块,液体池,液体轻敲式AFM成像功能(选配)

44~283X连续变倍彩色CCD观察显微系统

全金属屏蔽防震隔音箱(选配)

精密隔震平台(选配)

电子学控制器:

XYZ控制:18-bit D/A

数据采样:14-bit A/D 、双16-bit A/D多路同步采样

Z向反馈:DSP数字反馈

反馈采样速率:64.0kHz

高压放大器:集成高压运算放大器,zui大电压范围±170V

正弦波频率扫描范围:0~1000000Hz

正弦波幅度范围:0~10.0V

zui大扫描率:〉40000点/秒

扫描角度:0~360°

扫描偏移:任意

图像采样点:256×256或512×512

步进马达控制:手动和自动进退

计算机接口:RS232/USB口

计算机软件:

运行于中文Windows 98/2000/XP操作系统,标准视窗工作界面

AFM轻敲模式、相位模式

AFM接触模式(Contact Mode AFM)、摩擦力模式(LFM)功能

STM恒流模式、恒高模式功能(STM)

多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图

智能识别和控制系统状态、仪器类型、扫描器和探针架参数

DSP全数字控制的参数设置和采集

AFM激光检测系统的实时调整功能

针尖共振峰自动搜索功能

频率-RMS(f-RMS)曲线测量功能

RMS-间隙(RMS-Z)曲线测量功能

原子力-间距(F-Z)曲线测量功能(AFM)

电流-电压隧道谱(I-V曲线)测量功能(STM)

隧道电流-间隙(I-Z曲线)测量功能(STM)

静电力成像模式功能(选配)

磁力成像模式功能(选配)

支持步进马达自动驱进到扫描器中心

支持压电扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正

样品倾斜度线平均、偏置实时校正功能

实时调整本底及比例

定点实时测试I-V、I-Z(STM)、F-Z(AFM)、RMS-Z功能

鼠标控制扫描区域平移、剪切功能

用户任意定义调色板功能

图像获取文件连续存盘和自定义文件名,当前全部工作环境参数同步保存功能

图像在线浏览,连续图像获取文件动态重现,纳米电影功能

图形刻蚀模式、矢量扫描模式、纳米操纵和加工模式(选配)

完备的在线式智能提示及全程帮助

样品粒度、粗糙度分析

标准离线分析和处理功能

增加第二显示器(选配)

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