K-3925型 DEHA比色法快速水质分析套件-仪表网

公司介绍主营产品

*代理美国 Thermo、日本 SEIKO 及韩国 Micro Pioneer的 X-射线测厚仪。此仪器主要应用于线路板的镀层或涂层厚度的测量，而且特别适用于对微细表面积或超薄镀层的测量。此外，针对PCB线路板生产的不同工序，我司亦有以下不同产品可供选择：1 韩国Micro Pioneer X-射线测厚仪1 美国UPA / VEECO非破坏性厚度测试仪1 美国禾威(WALCHEM)电镀药液自动添加系统1 日本SEIKO(SII)X射线萤光测厚仪及元素分析仪1 日本KETT手提式涡流 / 磁感测试仪1 美国CECO PCB基材测试系统1 美国ECI电镀药液分析系统1 美国UNITRON工业用显微镜系统及表面光滑度测试仪1 美国EXTEC研磨 / 抛光器材及消耗品1 德国SCAN-DIA研磨 / 抛光器材及消耗品1 德国WTW实验室 / 工业用水质检查系统1 美国DeltaTRAK温度测试仪器多年来，我们一直致力于为半导体生产行业，PCB 厂商及一般电镀业等行业提供优质服务，让客户满意，为客户较大限度创造价值是我们始终坚持的目标，因为我们相信，客户的需要就是我们前进的动力。德国SCAN-DIA半自动研磨机德国SCAN-DIA微型低速切片机美国EXTECH金相切片机美国EXTECH研磨机美国EXTECH双盘研磨机美国EXTECH自动研磨机取样切割碟钻石磨光膏,粉,剂水晶胶凝胶杯沙纸&绒布样品夹微型*微型真空抽气泵金相切片测量套装金相测量软件美国UNITRON高级金相显微镜美国UNITRON直立式金相显微镜美国UNITRON倒立式金相显微镜德国 Roentgenanalytik X射线荧光测厚仪

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美国CHEMetrics K-3925型DEHA比色法快速水质分析套件
DEHA Visual Kits
Range: 25-250 ppm
MDL: 25 ppm / Method: Ceric Sulfate Titrant with Ferroin Indicator

DEHA比色法快速水质分析套件产品详情

美国CHEMetrics K-3925型DEHA比色法快速水质分析套件
DEHA Visual Kits
Range: 25-250 ppm
MDL: 25 ppm / Method: Ceric Sulfate Titrant with Ferroin Indicator

Titrets Kit K-3925
Increments:
25, 27.5, 30, 32.5, 35, 37.5, 40, 45, 50, 62.5, 75, 87.5, 100, 125, 175, 250 ppm
Kit comes in a cardboard box and contains everything needed to perform 30 tests: thirty ampoules with valve assemblies, Activator Solution, titrettor, 25 mL sample cup, instructions, and MSDS.

美国CHEMetrics代理商：上海益朗仪器有限公司

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