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创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的精确性
-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用
-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错
创新的SIDSP（探头内部数字信号处理）技术提升了测量的精确性
-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用
-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错
标准配置： *配件:
带塑料手提箱，内含： -F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架
-MINITEST 720（内置探头）
--或MINITEST 730（外置探头）
--或MINITEST740主机（不含探头，有各种探头可选）
-校准套装含校准片和零板
-操作使用说明CD，德语、英语、法语、西班牙语
-2节AA电池
技术数据表
SIDSP探头
探头 特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 | ||
| F | N | F | F | N | F | |
| 测量范围 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
| 使用范围 | 小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用 | 粗糙表面 | 标准探头，使用广泛 | 厚涂层 | ||
| 测量原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 |
| 信号处理 | 探头内部32位信号处理（SIDSP） | |||||
| 精确度 | ±（1μm+0.75%读值） | ±（1.5μm+0.75%读值） | ±（5μm+0.75%读值） | |||
| 重复性 | ±（0.5μm+0.5%读值） | ±（0.8μm+0.5%读值） | ±（2.5μm+0.5%读值） | |||
| 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
| zui小曲率半径（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
| zui小曲率半径（凹，外置探头） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
| zui小曲率半径（凹，内置探头） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
| zui小测量面积 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
| zui小基体厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
| 连续模式下测量速度 | 每秒20个读数 | |||||
| 单值模式下zui大测量速度 | 每分钟70个读数 | |||||
主机
型号 特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
| 探头类型 | 内置 | 外置 | 内置外置可换 |
| 数据记忆组数 | 10 | 10 | 100 |
| 存储数据量 | zui多10,000个 | zui多10,000个 | zui多100,000个 |
| 统计值 | 读值个数，zui小值，zui大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置） | ||
| 校准程序符合标准和规范 | ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准 | ||
| 校准模式 | 出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值 | ||
| 极限值监控 | 声、光报警提示超过极限 | ||
| 测量单位 | um，mm，cm；mils，inch，thou | ||
| 操作温度 | -10℃-60℃ | ||
| 存放温度 | -20℃-70℃ | ||
| 数据接口 | IrDA 1.0（红外接口） | ||
| 电源 | 2节AA电池 | ||
| 标准 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 | ||
| 体积 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||
| 重量 | 约175g | 约210g | 约175g（内置）/230g（外置） |
